L5150BNTR

   在恒定應(yīng)力加速壽命試驗中，所得到的失效數(shù)據(jù)要進行分析和處理。所謂數(shù)據(jù)分析，主要是指判斷此次試驗是否正常，失效是真失效還是假失效，失效數(shù)據(jù)和失效時間是否屬實，加速模型是否恰當?shù)�，以保證試驗的有效性。試驗數(shù)據(jù)處理，就是指用統(tǒng)計分析方法，估算出可靠性有關(guān)的特征量和參數(shù)。在數(shù)據(jù)處理中，目前主要采用圖估法和數(shù)值解析法。這兩種方法各有優(yōu)缺點。圖估法的最大優(yōu)點是簡單易掌握，較直觀，分析快，還能監(jiān)測試驗數(shù)據(jù)是否出現(xiàn)異�，F(xiàn)象。它也有很大的缺點，所得的結(jié)果因人而異，精確性較差。即使存在這些缺點，而實際工作中仍常使用它，特別是對于精確度要求不很高的場合，或初步進行分析。

    恒定應(yīng)力加速壽命試驗的圖估法，需要借助于兩種類型的坐標紙：一類是概率紙，主 要是威布爾概率紙、正態(tài)概率紙或?qū)?shù)正態(tài)概率紙；另一類是對數(shù)坐標紙，主要是單邊對 數(shù)坐標紙（適用于以溫度作為加速變量的情況）和雙邊對數(shù)坐標紙（適用于以電應(yīng)力作為加 速變量的情況）。概率紙主要用來分別得到不同應(yīng)力水平下的壽命分布及其可靠性壽命特 征量，以及用來預(yù)測正常應(yīng)力水平下的壽命分布和可靠性壽命特征量。對數(shù)坐標紙用來得 到加速壽命曲線，并由此估計出正常應(yīng)力水平下壽命分布的位置。

   數(shù)值解析法有很多種方法。在電子元器件與材料加速壽命試驗中最常采用的是最小二乘法，它是根據(jù)最小二乘法原理來選取線性函數(shù)的方法，由于有統(tǒng)一的計算公式，可彌補圖估法估計結(jié)果因人而異的缺點，但精確度比較差。極大似然估計是一個重要方法，它根據(jù)使子樣觀察值出現(xiàn)的概率最大的原則，來求母體中未知參數(shù)的估計量，由于計算復(fù)雜，

一般需要借助電子計算機方能進行這種計算。在估計威布爾分布參數(shù)時，簡單線性無偏估計法（適用于祥品數(shù)大于25）和最好線性無偏估計法（適用于樣品數(shù)小于25），是一種效率較高的估計方法。它不僅估計精度比較高，而且計算比較簡單，易于手算。此外，還有簡單線性不變估計法、最好線性不變估計法等。我國常采用圖估法作為試驗結(jié)果的初步分析、判斷和估算，然后采用簡單或最好線性無偏估計法進行精確計算。