保證測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性問題

   (1)根據(jù)產(chǎn)品參數(shù)失效判據(jù),選擇合適精度的儀器進(jìn)行測量

   一般來說,參數(shù)測量時使用精度高的儀器比使用精度低的儀器好。但也不是選用的精度越高越好。一般而言,儀器的精度比失效判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)高一個數(shù)量級就可以了。例如,元器件參數(shù)的失效判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)為千分之五,則選用的儀表精度為萬分之五;若參數(shù)的失效判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)值較小(如只有干分之一),并且選用精度比參數(shù)失效判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)高10倍的儀器有困難時,也要選用精度比元器件參數(shù)失效判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)至少高5倍的儀器進(jìn)行測量。

   (2)嚴(yán)格執(zhí)行儀器的定期校準(zhǔn)和自校制度

   儀器在每個測量周期之前都需經(jīng)過檢定/校準(zhǔn)合格(并在檢定校準(zhǔn)合格的有效期內(nèi))方可使用。在測量過程中,如遇到參數(shù)異常,可用標(biāo)準(zhǔn)件對儀表進(jìn)行校驗,在證實儀表正常,測量數(shù)據(jù)可信后,再分析造成參數(shù)變化的原因。

   (3)避免差錯

   差錯一般是由于使用有故障的儀器而未發(fā)現(xiàn),使用儀器的方法不正確,讀錯數(shù)字或記錄錯誤等原因造成的。為了減少差錯,應(yīng)使用重復(fù)性好、抗干擾能力強的測量系統(tǒng),并使測量、記錄自動化。

M25PE40VMW6

   (4)采用合理的測量引線、夾具

   儀器測量用引線應(yīng)盡可能短,以避免分布參數(shù)造成的影響。為提高測量的穩(wěn)定性,必要時可以對測量端做屏蔽處理,測量夾具要既不損傷樣品引線,又能保證接觸良好。例如在測量電容器的損耗角正切值時,發(fā)現(xiàn)同一樣品先后兩次測得的損耗角正切值相差根大。究其原 因,發(fā)現(xiàn)測量夾具不符合要求,時緊時松,隨引線接觸位置的不同而不同。對于試驗時間較長,引線表面氧化嚴(yán)重的樣品,這種現(xiàn)象則更為明顯。當(dāng)引線與夾具接觸太松時,接觸損耗明顯增加,使得損耗角正切顯著增大;當(dāng)引線與夾具接觸緊密時,接觸損耗減少,因而損耗角正切值讀數(shù)恢復(fù)到正常值。

   在進(jìn)行微波小功率器件、微波功率器件的壽命試驗時,如果老化臺的加電引線較長,夾具分布參量較大,器件在加電時會產(chǎn)生頻率較高的自激振蕩。較輕微的自激會影響加電測量的準(zhǔn)確性,較嚴(yán)重的自激則會燒毀器件。因此,對微波器件應(yīng)在老化臺、直流測試線路中采取抗自激措施。

   (5)嚴(yán)格控制測量室的環(huán)境條件

   元器件的測試應(yīng)在規(guī)定的環(huán)境條件下進(jìn)行。如果測量室溫、濕度不在規(guī)定范圍內(nèi),就會使元器件在各個周期測得的數(shù)據(jù)上下波動,測試結(jié)果無效。