試驗(yàn)設(shè)備和裝置問題

   試驗(yàn)設(shè)備和試驗(yàn)本身的可靠性在很大程度上支配者試驗(yàn)數(shù)據(jù)的可靠性和重現(xiàn)性。只有采用合適的試驗(yàn)設(shè)備和試驗(yàn)裝置才能獲得正確的試驗(yàn)結(jié)果。在壽命試驗(yàn)中,對(duì)樣品施加溫度應(yīng)力和電負(fù)荷應(yīng)力,保證受試樣品能承受規(guī)定壓力。但有時(shí)會(huì)出現(xiàn)這樣的情況:在進(jìn)行壽命試驗(yàn)時(shí),相鄰應(yīng)力的兩組樣品,其特性變化非常接近,甚至互相交迭。究其原因,發(fā)現(xiàn)是由于溫度或負(fù)荷應(yīng)力控制不準(zhǔn)確造成的,這將對(duì)試驗(yàn)結(jié)果的分析帶來很大的困難。在進(jìn)行高溫壽命試驗(yàn)時(shí),采用控溫效果不好,箱體內(nèi)溫度不均勻,造成試驗(yàn)結(jié)果的不準(zhǔn)確。因此,在試驗(yàn)中要采用溫度控制精確、能使受試樣品受熱均勻、性能好的高溫箱做試驗(yàn)。

M25P128-VMF6TPB

   進(jìn)行試驗(yàn)時(shí),要對(duì)樣品施加一定的負(fù)荷電壓,當(dāng)溫度較高時(shí),試驗(yàn)時(shí)間又較長(zhǎng)時(shí),樣品夾具的彈性有時(shí)會(huì)減弱,樣品夾具和引線表面也會(huì)氧化,致使樣品加不上負(fù)荷。因此,每個(gè)周期測(cè)量完畢,開始下周期試驗(yàn)之前,都應(yīng)該認(rèn)真檢查每個(gè)樣品是否加上規(guī)定的負(fù)荷,及時(shí)撤換那些己經(jīng)失效的夾具。對(duì)于半導(dǎo)體及集成電路做壽命試驗(yàn)時(shí),應(yīng)該在試驗(yàn)線路上采取有效的保護(hù)措施。不同類型的半導(dǎo)體器件或集成電路采用不同的保護(hù)方法。