鹽霧試驗(yàn)技術(shù)的發(fā)展趨勢

   鹽霧試驗(yàn)是考核產(chǎn)品在鹽霧環(huán)境中能夠正常工作和儲(chǔ)存的性能,并不表明電子產(chǎn)品在海洋大氣環(huán)境中不會(huì)發(fā)生鹽霧腐蝕,但可以發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)缺陷。OP200AZ連續(xù)恒定的鹽霧試驗(yàn)與實(shí)際 使用之間存在差異,對于電子產(chǎn)品而言,由于構(gòu)成材料多種多樣,元器件種類繁多,不同材料和元器件在鹽霧環(huán)境下的腐蝕行為可能存在較大的差異。因此,評價(jià)考核產(chǎn)品長期耐鹽霧能力較為復(fù)雜,目前尚未有一種通用的方法。針對長期耐鹽霧腐蝕要求的產(chǎn)品,可通過自然環(huán)境試驗(yàn)來考察環(huán)境對產(chǎn)品的長期效應(yīng),同時(shí),選擇適當(dāng)?shù)膶?shí)驗(yàn)室的環(huán)境試驗(yàn),與自然環(huán)境試驗(yàn)進(jìn)行對比,可探索對該產(chǎn)品的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法,以較快速的評價(jià)產(chǎn)品長期耐鹽霧的腐蝕性能。

   普通鹽霧試驗(yàn)只考慮了溫、濕度和氯離子等單一囚素對材料氣候的腐蝕影響,因此可以考慮把其他主要的影響因素出加入進(jìn)去,如太陽輻射、氯離子沉降、干濕循環(huán)和溫度,更加真實(shí)再現(xiàn)實(shí)際自然環(huán)境的情況。