鹽霧試驗技術的發(fā)展趨勢

   鹽霧試驗是考核產品在鹽霧環(huán)境中能夠正常工作和儲存的性能,并不表明電子產品在海洋大氣環(huán)境中不會發(fā)生鹽霧腐蝕,但可以發(fā)現(xiàn)產品的設計缺陷。OP200AZ連續(xù)恒定的鹽霧試驗與實際 使用之間存在差異,對于電子產品而言,由于構成材料多種多樣,元器件種類繁多,不同材料和元器件在鹽霧環(huán)境下的腐蝕行為可能存在較大的差異。因此,評價考核產品長期耐鹽霧能力較為復雜,目前尚未有一種通用的方法。針對長期耐鹽霧腐蝕要求的產品,可通過自然環(huán)境試驗來考察環(huán)境對產品的長期效應,同時,選擇適當的實驗室的環(huán)境試驗,與自然環(huán)境試驗進行對比,可探索對該產品的實驗室環(huán)境試驗方法,以較快速的評價產品長期耐鹽霧的腐蝕性能。

   普通鹽霧試驗只考慮了溫、濕度和氯離子等單一囚素對材料氣候的腐蝕影響,因此可以考慮把其他主要的影響因素出加入進去,如太陽輻射、氯離子沉降、干濕循環(huán)和溫度,更加真實再現(xiàn)實際自然環(huán)境的情況。