進(jìn)行單粒子試驗(yàn)

   迸行單粒子試驗(yàn)的一般步驟如下:

   (1)試驗(yàn)測(cè)試系統(tǒng)的安裝; GAL16V8D-25LPN

   (2)安裝完畢后,進(jìn)行系統(tǒng)功能驗(yàn)證,以保證系統(tǒng)的正常;

   (3)靶室(真空罐)系統(tǒng)抽真空;

   (4)調(diào)節(jié)樣品位置,開(kāi)始輻照試驗(yàn)。

   輻照前應(yīng)獲取束流均勻性數(shù)據(jù),保證束流均勻性符合要求;輻照過(guò)程中,測(cè)試系統(tǒng)監(jiān)測(cè)被測(cè)器件發(fā)生的單粒子效應(yīng),束流測(cè)量系統(tǒng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)入射粒子的注量率及入射總注量,記錄相應(yīng)的單粒子效應(yīng)現(xiàn)象、數(shù)據(jù)和輻照時(shí)間。

   在試驗(yàn)過(guò)程中,選取試驗(yàn)方案中規(guī)定的離子種類進(jìn)行試驗(yàn),所獲得的有效LET數(shù)據(jù)點(diǎn)至少為5個(gè)。

   試驗(yàn)后數(shù)據(jù)處理

   根據(jù)離子注量率監(jiān)測(cè)系統(tǒng)記錄的數(shù)據(jù),計(jì)算垂直入射到某一器件表面的總離子注量。繪制出單粒子翻轉(zhuǎn)或閉鎖截面隨LET值變化的關(guān)系曲線,即器件的單粒子翻轉(zhuǎn)或閉鎖響應(yīng)曲線。對(duì)重離子測(cè)試而言,如果離子入射方向與器件表面有一定的角度,則有效LET值為垂直入射時(shí)的LETt值除⒓1入射角的余弦:

   如果入射角度發(fā)生變化,有效注量也隨之改變。測(cè)量到的離子注量應(yīng)當(dāng)修正,單粒子效應(yīng)截面用下式計(jì)算,Ⅳ為翻轉(zhuǎn)數(shù),￠為垂直于離子束測(cè)量到的離子注量。

    然后根據(jù)得到的單粒子事件截面淌入射離子LET的關(guān)系曲線,以及器件實(shí)際使用的宇航空間輻射環(huán)境參數(shù),進(jìn)行在軌單粒子事件率的預(yù)估。目前國(guó)內(nèi)外常用的在軌單粒子事件率預(yù)計(jì)的軟件有spacc radiatioll和CR它ME軟件等。

   圖3-21所示為國(guó)外某型號(hào)DAC的單粒子效應(yīng)數(shù)據(jù)點(diǎn),以及采用威布爾函數(shù)(W⒍bu11)擬合得到的單粒子效應(yīng)全截面曲線。