單粒子效應(yīng)截面(sEE Cross scctioll)

   單粒子效應(yīng)截面σ表示為單粒子事件發(fā)生的機率,單粒子事件截面, M24C64-WDW6TP單位為平方厘米每器件或平方匣米每位(cm2'器件或cm2/位);

NL一發(fā)生單粒子事件的數(shù)量;

   注量(也稱通量),為器件單位面積(cm2)入射的總的粒子數(shù),單位為粒子數(shù)每平方厘米(粒子數(shù)允m2)。

   截面表示被測試器件的單粒子效應(yīng)的敏感度,截面越大,表示器件抗單粒子效應(yīng)的能力越差。

   單粒子飽和截面與LET閾值

   單粒子試驗的目的是通過試驗,獲得器件單粒子事件截面淌入射離子LET的關(guān)系曲線,為器件的在軌單粒子事件率(單粒子試驗發(fā)生的幾率)提供數(shù)據(jù)。LET的關(guān)系曲線示意圖如圖3-16所示。由圖3-16可以看出,隨著入射粒子LET值的增加,器件的單粒子截面將會不斷增大。當(dāng)入射粒子的LET值達到某一值后,繼續(xù)增加射粒子的LET值時,器件的單粒子截面將不會再增加,該截面稱為單粒子飽和截面負缸。LET閾值定義為在給定的注量下,使器件發(fā)生單粒子事件的最小的LET值。但是由于試驗設(shè)各及試驗資源的原因,實際試驗過程中,通過輻照試驗得到器件發(fā)生單粒子事件的最小的LET值往往比較困難,因此,標(biāo)準(zhǔn)中叉將LET閾值定義為1%飽和截面所對應(yīng)的

LET值。