piND試驗技術的發(fā)展趨勢

   粒子碰撞噪聲試驗(PIND)目的之一是及時消除有粒子隱患的電子元器件,同時通過對失效樣品的分析,G15N120RUF為產品質量改進提供有用信息。這項試驗技術的發(fā)展趨勢如下:

   1.粒子的提取技術

   由于粒子太小,所以,一般不宜采用解體方法,目前國內的粒子提取技術主要是采用手工的方法。即選擇樣品合適的一面,將其慢慢地銼薄,不銼通。然后將試樣清洗干凈,在清潔環(huán)境下用一根尖針將其銼薄處穿個小孔,并立即在該孔處用透明膠紙封住。此后再將樣品放在振動臺上進行振動,直至沒有粒子信號再出現為止。另一種較為快捷的辦法是使小孔口朝下,用手輕輕敲擊樣品的封殼,然后在顯微鏡下觀察透明膠紙上有無粒子被黏牢。

    粒子被取出后,可在電子掃描鏡顯微中或其他質譜分析儀中進行成分分析。提取粒子是根據具體要求而定的,為了便于取出粒子,最好是選擇粒子信號偏大的試樣進行分析。但這種方法不能保證對粒子100%地提取,所以,未來可在這方面進行改進。

   2.通過觀察信號或波形直觀地得到內部粒子的信息

   通過技術的提高或監(jiān)測電性能等方法,直觀地觀察信號或波形便可得到器件內部的粒子形態(tài)。如器件內部是否存在真實的粒子,或是由于器件本身的工藝導致的噪聲信號產生等。若是真實粒子,那么粒子的大小、材料是什么等,可以直觀地獲取,減小試驗的錯判和漏判。