piND試驗(yàn)技術(shù)的發(fā)展趨勢

   粒子碰撞噪聲試驗(yàn)(PIND)目的之一是及時(shí)消除有粒子隱患的電子元器件,同時(shí)通過對失效樣品的分析,G15N120RUF為產(chǎn)品質(zhì)量改進(jìn)提供有用信息。這項(xiàng)試驗(yàn)技術(shù)的發(fā)展趨勢如下:

   1.粒子的提取技術(shù)

   由于粒子太小,所以,一般不宜采用解體方法,目前國內(nèi)的粒子提取技術(shù)主要是采用手工的方法。即選擇樣品合適的一面,將其慢慢地銼薄,不銼通。然后將試樣清洗干凈,在清潔環(huán)境下用一根尖針將其銼薄處穿個(gè)小孔,并立即在該孔處用透明膠紙封住。此后再將樣品放在振動(dòng)臺上進(jìn)行振動(dòng),直至沒有粒子信號再出現(xiàn)為止。另一種較為快捷的辦法是使小孔口朝下,用手輕輕敲擊樣品的封殼,然后在顯微鏡下觀察透明膠紙上有無粒子被黏牢。

    粒子被取出后,可在電子掃描鏡顯微中或其他質(zhì)譜分析儀中進(jìn)行成分分析。提取粒子是根據(jù)具體要求而定的,為了便于取出粒子,最好是選擇粒子信號偏大的試樣進(jìn)行分析。但這種方法不能保證對粒子100%地提取,所以,未來可在這方面進(jìn)行改進(jìn)。

   2.通過觀察信號或波形直觀地得到內(nèi)部粒子的信息

   通過技術(shù)的提高或監(jiān)測電性能等方法,直觀地觀察信號或波形便可得到器件內(nèi)部的粒子形態(tài)。如器件內(nèi)部是否存在真實(shí)的粒子,或是由于器件本身的工藝導(dǎo)致的噪聲信號產(chǎn)生等。若是真實(shí)粒子,那么粒子的大小、材料是什么等,可以直觀地獲取,減小試驗(yàn)的錯(cuò)判和漏判。