電磁兼容測量的基礎理論 M29W800DB70N6

    由于元器件、電路、電子儀器設備中的分布參數(shù)對電磁發(fā)射與抗擾度的電平值影響較大,加上電磁噪聲的時域,頻域特性極其復雜,并且頻率范圍較寬,甚至高達GHz數(shù)量級。從目前的科學水平和測量技術手段去衡量,數(shù)學建模計算及計算機仿真的結果與實際測量條件下的誤差相差甚遠。制定滿足系統(tǒng)要求的技術指標只有通過實際測量才能完成,測量在電磁兼容領域里既是必要的,也是不可缺少的。另外,根據(jù)電磁噪聲的特性,要嚴格和合理地選擇測量儀器儀表、測量場地及測量方法等。

    電磁發(fā)射測量與抗擾度測量

   對于電磁騷擾發(fā)射或受試設備受電磁騷擾的侵害,都要通過受試設備的端口,但這種端口是廣義的(見圖⒓,4.1),與一般理解的電路端口有所不同。輻射騷擾出現(xiàn)在設備周圍的媒體中,而傳導騷擾出現(xiàn)在各種金屬性媒體中(如導線、結構等)。端口的概念劃分為5類:外殼端口、交流電源端口、直流電源端口、信號線/控制線端口,以及地端口。在這5類端口中,通過外殼端口發(fā)射的電磁騷擾或通過外殼端口侵人的騷擾都是屬于輻射騷擾,而通過其他端口的則屬于傳導騷擾。