解串器之間的數(shù)據(jù)傳輸通道爪極發(fā)電機(jī)漏磁通較大
發(fā)布時(shí)間:2022/4/27 21:12:47 訪問次數(shù):682
爪極發(fā)電機(jī)的結(jié)構(gòu),a)有刷結(jié)構(gòu) b)無刷結(jié)構(gòu),N-N極性爪極 s―s極性爪極 E―勵(lì)磁繞組 SR一勵(lì)磁用集電環(huán) R一無磁性環(huán) a1、a2―附加氣隙.
性能和用途爪極發(fā)電機(jī)漏磁通較大,電樞反應(yīng)對端電壓的影響也較大,但爪極發(fā)電機(jī)結(jié)構(gòu)簡單,轉(zhuǎn)速高,可達(dá)6000ymin,輸出功率可達(dá)30kⅤ/A,大量用作汽車和列車的照明電源。
用示波器觀測各相輸出的觸發(fā)脈沖應(yīng)為雙脈沖,相互間隔應(yīng)為60°,并調(diào)節(jié)控制電壓、觀察各相脈沖的移相情況是否正常。

AT89LP中央處理器(CPU)進(jìn)行一次字節(jié)讀取僅需一個(gè)時(shí)鐘周期,而標(biāo)準(zhǔn)8051CPU卻需要12個(gè)時(shí)鐘周期。AT89LP核心在20MHz的時(shí)鐘頻率下能達(dá)到20MIPS的處理速度,而標(biāo)準(zhǔn)的8051架構(gòu)在20MHz時(shí)的處理速度低于2MIPS。
新的AT89LP核心能夠以低得多的時(shí)鐘頻率提供與標(biāo)準(zhǔn)8051核心相同的MIPS處理速度,從而使能耗下降85%,與標(biāo)準(zhǔn)8051指令組的二進(jìn)制兼容性使設(shè)計(jì)者能夠輕易地從多時(shí)鐘周期的8051設(shè)備輕松移植至 AT89LP系列,同時(shí)無需花費(fèi)巨大且耗時(shí)的重新設(shè)計(jì)即可輕易更新其應(yīng)用性能。
串行/解串器芯片組可以支持IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描測試功能。
按照IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,系統(tǒng)必須設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)的測試訪問端口(TAP),以便設(shè)計(jì)或測試工程師可以通過這個(gè)端口進(jìn)入底板或電纜的互連線路驗(yàn)證差分信號的完整性。
2.0V至5.5V的寬工作電壓范圍適用于功率管理、大型家電以及電池驅(qū)動(dòng)的應(yīng)用產(chǎn)品。
這款芯片組也設(shè)有按照不同速度進(jìn)行的內(nèi)置式自我測試(at-speed BIST)模式,確保工程師可在不同速度下驗(yàn)證串行器及解串器之間的數(shù)據(jù)傳輸通道。
爪極發(fā)電機(jī)的結(jié)構(gòu),a)有刷結(jié)構(gòu) b)無刷結(jié)構(gòu),N-N極性爪極 s―s極性爪極 E―勵(lì)磁繞組 SR一勵(lì)磁用集電環(huán) R一無磁性環(huán) a1、a2―附加氣隙.
性能和用途爪極發(fā)電機(jī)漏磁通較大,電樞反應(yīng)對端電壓的影響也較大,但爪極發(fā)電機(jī)結(jié)構(gòu)簡單,轉(zhuǎn)速高,可達(dá)6000ymin,輸出功率可達(dá)30kⅤ/A,大量用作汽車和列車的照明電源。
用示波器觀測各相輸出的觸發(fā)脈沖應(yīng)為雙脈沖,相互間隔應(yīng)為60°,并調(diào)節(jié)控制電壓、觀察各相脈沖的移相情況是否正常。

AT89LP中央處理器(CPU)進(jìn)行一次字節(jié)讀取僅需一個(gè)時(shí)鐘周期,而標(biāo)準(zhǔn)8051CPU卻需要12個(gè)時(shí)鐘周期。AT89LP核心在20MHz的時(shí)鐘頻率下能達(dá)到20MIPS的處理速度,而標(biāo)準(zhǔn)的8051架構(gòu)在20MHz時(shí)的處理速度低于2MIPS。
新的AT89LP核心能夠以低得多的時(shí)鐘頻率提供與標(biāo)準(zhǔn)8051核心相同的MIPS處理速度,從而使能耗下降85%,與標(biāo)準(zhǔn)8051指令組的二進(jìn)制兼容性使設(shè)計(jì)者能夠輕易地從多時(shí)鐘周期的8051設(shè)備輕松移植至 AT89LP系列,同時(shí)無需花費(fèi)巨大且耗時(shí)的重新設(shè)計(jì)即可輕易更新其應(yīng)用性能。
串行/解串器芯片組可以支持IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描測試功能。
按照IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,系統(tǒng)必須設(shè)有標(biāo)準(zhǔn)的測試訪問端口(TAP),以便設(shè)計(jì)或測試工程師可以通過這個(gè)端口進(jìn)入底板或電纜的互連線路驗(yàn)證差分信號的完整性。
2.0V至5.5V的寬工作電壓范圍適用于功率管理、大型家電以及電池驅(qū)動(dòng)的應(yīng)用產(chǎn)品。
這款芯片組也設(shè)有按照不同速度進(jìn)行的內(nèi)置式自我測試(at-speed BIST)模式,確保工程師可在不同速度下驗(yàn)證串行器及解串器之間的數(shù)據(jù)傳輸通道。
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