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輸入阻抗差異會導(dǎo)致誤差tAC時鐘上升沿到數(shù)據(jù)輸出延時

發(fā)布時間:2022/6/3 18:03:42 訪問次數(shù):179

DDR2 SDRAM產(chǎn)品在上電使用前需進(jìn)行初始化,并對模式寄存器(Mode Register)進(jìn)行配置,確定所需要的突發(fā)長度(Burst Length)、突發(fā)類型(Burst Type),CAS 延時等。

交流參數(shù)表征的是芯片的工作性能,一般用搜索法來測試交流參數(shù),在Magnum 2測試系統(tǒng)上測試tAC參數(shù)為例來介紹測試機(jī)如何進(jìn)行交流參數(shù)的測試,tAC時鐘上升沿到數(shù)據(jù)輸出延時(Address to Output Delay),該參數(shù)越小則產(chǎn)品響應(yīng)速度越快。

搜索法的具體思路為假設(shè)t0時刻地址有效,隨后在t0+tSTEP進(jìn)行讀數(shù)據(jù),如果讀取成功,則tAC=t0+tSTEP,如果讀取失敗則在t0+2tSTEP時讀取數(shù)據(jù),如此循環(huán)直到讀取成功為止。

當(dāng)滑動窗關(guān)上時,可用操縱手柄操縱窗上的鎖閂插人窗框孔中而鎖住。裝在滑輪軌道內(nèi)的兩個鎖柱用來鎖住操縱手柄,一個在窗戶全開時使用,另一個在窗戶全關(guān)時使用。

開窗時,壓下操縱手柄上的松開銷,先向里再向后拉操縱手柄,就可使鎖閘從窗框孔中抽出,并使窗戶沿軌道向后滑動而打開,直到手柄與后面的一個鎖柱較合為止。

在緊急情況下,可將該窗取下,成為機(jī)組人員的應(yīng)急出口c取下該窗的方法是:先將轉(zhuǎn)動臂上的白色標(biāo)記與“窗戶拋棄”標(biāo)牌上的標(biāo)記對齊,然后抽出快卸銷,再向下拉拋棄手柄,使上滾子脫離軌道,即可取下。

在控制器一端(MCU、FPGA、DSP)使用簡單的校準(zhǔn)系數(shù)。但是,這樣有兩大缺點(diǎn):需要額外的控制器資源,以及器件與器件之間的輸入阻抗差異會導(dǎo)致誤差。

為了顯示與后端校準(zhǔn)相比,片內(nèi)校準(zhǔn)所具備的優(yōu)勢,我們測量了一系列AD7606C-18裝置(,在測量時,假設(shè)輸入阻抗始終為典型值(RIN=1.2MΩ)。

與片內(nèi)校準(zhǔn)相媲美。這意味著它的實(shí)際輸入阻抗(RIN)非常接近典型值,實(shí)際輸入阻抗(RIN)稍微高于典型值,片內(nèi)校準(zhǔn)保持所有裝置和RFILTER值的總誤差均低于0.03%。


DDR2 SDRAM產(chǎn)品在上電使用前需進(jìn)行初始化,并對模式寄存器(Mode Register)進(jìn)行配置,確定所需要的突發(fā)長度(Burst Length)、突發(fā)類型(Burst Type),CAS 延時等。

交流參數(shù)表征的是芯片的工作性能,一般用搜索法來測試交流參數(shù),在Magnum 2測試系統(tǒng)上測試tAC參數(shù)為例來介紹測試機(jī)如何進(jìn)行交流參數(shù)的測試,tAC時鐘上升沿到數(shù)據(jù)輸出延時(Address to Output Delay),該參數(shù)越小則產(chǎn)品響應(yīng)速度越快。

搜索法的具體思路為假設(shè)t0時刻地址有效,隨后在t0+tSTEP進(jìn)行讀數(shù)據(jù),如果讀取成功,則tAC=t0+tSTEP,如果讀取失敗則在t0+2tSTEP時讀取數(shù)據(jù),如此循環(huán)直到讀取成功為止。

當(dāng)滑動窗關(guān)上時,可用操縱手柄操縱窗上的鎖閂插人窗框孔中而鎖住。裝在滑輪軌道內(nèi)的兩個鎖柱用來鎖住操縱手柄,一個在窗戶全開時使用,另一個在窗戶全關(guān)時使用。

開窗時,壓下操縱手柄上的松開銷,先向里再向后拉操縱手柄,就可使鎖閘從窗框孔中抽出,并使窗戶沿軌道向后滑動而打開,直到手柄與后面的一個鎖柱較合為止。

在緊急情況下,可將該窗取下,成為機(jī)組人員的應(yīng)急出口c取下該窗的方法是:先將轉(zhuǎn)動臂上的白色標(biāo)記與“窗戶拋棄”標(biāo)牌上的標(biāo)記對齊,然后抽出快卸銷,再向下拉拋棄手柄,使上滾子脫離軌道,即可取下。

在控制器一端(MCU、FPGA、DSP)使用簡單的校準(zhǔn)系數(shù)。但是,這樣有兩大缺點(diǎn):需要額外的控制器資源,以及器件與器件之間的輸入阻抗差異會導(dǎo)致誤差。

為了顯示與后端校準(zhǔn)相比,片內(nèi)校準(zhǔn)所具備的優(yōu)勢,我們測量了一系列AD7606C-18裝置(,在測量時,假設(shè)輸入阻抗始終為典型值(RIN=1.2MΩ)。

與片內(nèi)校準(zhǔn)相媲美。這意味著它的實(shí)際輸入阻抗(RIN)非常接近典型值,實(shí)際輸入阻抗(RIN)稍微高于典型值,片內(nèi)校準(zhǔn)保持所有裝置和RFILTER值的總誤差均低于0.03%。


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