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接口外擴CAN口或者通過以太網(wǎng)的方式監(jiān)控整個測試情況

發(fā)布時間:2022/11/21 13:23:36 訪問次數(shù):197

電池測試需要實時監(jiān)控CAN總線數(shù)據(jù),目前電池企業(yè)使用的方案大多采用工控機PCIe/PCI/miniPCIe等接口外擴CAN口或者通過以太網(wǎng)的方式監(jiān)控整個測試情況。

為了能夠快速高效的動力電池,單靠一路CAN測試是太浪費時間。另外,隨著汽車電子開始面向CANFD升級以及電池數(shù)據(jù)量的增大,如何在有限的資源下高效的完成多路動力電池組的CAN/CANFD測試也成為了各大電池企業(yè)的難點。

若電池測試項目現(xiàn)場使用多PCIe槽的工控機,多通道PCIe接口的PCIeCANFD-400U卡搭載工控機來進行監(jiān)控的方案,外擴4路相互獨立的CAN/CANFD通道,實時監(jiān)控動力電池內(nèi)外CAN/CANFD總線的情況。

直流輸入信號為200kHz,ADC采樣率為1MSPS。實現(xiàn)約300kHz的通帶和40dB左右的混疊抑制大概需要一個五階濾波器。

將ADC采樣率從1MSPS增至16MSPS,混疊頻段就會從800kHz推遠至15.8MHz,所以將抗混疊濾波器替換為二階濾波器。此外,混疊頻段還會偏離此頻區(qū)(600kHz至2MHz),此頻區(qū)中通常包含由電源的開關(guān)穩(wěn)壓器產(chǎn)生的雜散。

時鐘頻率是1.2GHz時,一個周期是833ps。對于FR4的典型飛行時間是6.6ps/mm,所以1mm的走線大約消耗整個周期的1.6%。

FPGA產(chǎn)品的創(chuàng)新應(yīng)用和技術(shù)突破,其ASSP接口解決方案的發(fā)布是這一努力的最新成果。GWU2U和GWU2X支持多種操作系統(tǒng),兼容FPGA開發(fā)EDA工具。它們還提供基于C/C++的API來創(chuàng)建的USB接口程序。還同時提供USB 1.1和USB 2.0 PHY和設(shè)備控制器IP,方便客戶靈活的進行設(shè)計。

這不僅提高了系統(tǒng)的可靠性和壽命,而且提供了一種進一步防止單粒子翻轉(zhuǎn)的機制。

DDR4還提供了連接性測試模式(CT),用來在不調(diào)用SDRAM的初始化序列的情況下檢查內(nèi)存和控制器之間的PCB走線的連續(xù)性。傳統(tǒng)的邊界掃描測試在每個時鐘周期串行移入和移出測試序列,與之不同,CT模式使用更快的并行接口。

來源:eefocus.如涉版權(quán)請聯(lián)系刪除。圖片供參考

電池測試需要實時監(jiān)控CAN總線數(shù)據(jù),目前電池企業(yè)使用的方案大多采用工控機PCIe/PCI/miniPCIe等接口外擴CAN口或者通過以太網(wǎng)的方式監(jiān)控整個測試情況。

為了能夠快速高效的動力電池,單靠一路CAN測試是太浪費時間。另外,隨著汽車電子開始面向CANFD升級以及電池數(shù)據(jù)量的增大,如何在有限的資源下高效的完成多路動力電池組的CAN/CANFD測試也成為了各大電池企業(yè)的難點。

若電池測試項目現(xiàn)場使用多PCIe槽的工控機,多通道PCIe接口的PCIeCANFD-400U卡搭載工控機來進行監(jiān)控的方案,外擴4路相互獨立的CAN/CANFD通道,實時監(jiān)控動力電池內(nèi)外CAN/CANFD總線的情況。

直流輸入信號為200kHz,ADC采樣率為1MSPS。實現(xiàn)約300kHz的通帶和40dB左右的混疊抑制大概需要一個五階濾波器。

將ADC采樣率從1MSPS增至16MSPS,混疊頻段就會從800kHz推遠至15.8MHz,所以將抗混疊濾波器替換為二階濾波器。此外,混疊頻段還會偏離此頻區(qū)(600kHz至2MHz),此頻區(qū)中通常包含由電源的開關(guān)穩(wěn)壓器產(chǎn)生的雜散。

時鐘頻率是1.2GHz時,一個周期是833ps。對于FR4的典型飛行時間是6.6ps/mm,所以1mm的走線大約消耗整個周期的1.6%。

FPGA產(chǎn)品的創(chuàng)新應(yīng)用和技術(shù)突破,其ASSP接口解決方案的發(fā)布是這一努力的最新成果。GWU2U和GWU2X支持多種操作系統(tǒng),兼容FPGA開發(fā)EDA工具。它們還提供基于C/C++的API來創(chuàng)建的USB接口程序。還同時提供USB 1.1和USB 2.0 PHY和設(shè)備控制器IP,方便客戶靈活的進行設(shè)計。

這不僅提高了系統(tǒng)的可靠性和壽命,而且提供了一種進一步防止單粒子翻轉(zhuǎn)的機制。

DDR4還提供了連接性測試模式(CT),用來在不調(diào)用SDRAM的初始化序列的情況下檢查內(nèi)存和控制器之間的PCB走線的連續(xù)性。傳統(tǒng)的邊界掃描測試在每個時鐘周期串行移入和移出測試序列,與之不同,CT模式使用更快的并行接口。

來源:eefocus.如涉版權(quán)請聯(lián)系刪除。圖片供參考

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