絕緣電阻極化指數(shù)測量方法基于極化效應(yīng),通過施加直流電壓來測量絕緣電阻極化指數(shù)。

該方法的引腳封裝常見為插頭式或端子式，方便連接測試電路和被測絕緣材料。

絕緣電阻極化指數(shù)測量方法在電氣設(shè)備的絕緣測試、故障檢測和維護(hù)調(diào)試中具有重要的功能應(yīng)用。

該方法的優(yōu)勢包括非破壞性測試、簡便快速以及定量評估絕緣性能的能力。通過絕緣電阻極化指數(shù)測量方法，可以對電氣設(shè)備的絕緣性能進(jìn)行準(zhǔn)確評估，提高設(shè)備的可靠性和安全性。

定期使用絕緣電阻極化指數(shù)測量方法對電氣設(shè)備進(jìn)行絕緣測試，以確保設(shè)備的正常運(yùn)行和安全性。

ACS780/81系列器件集成有高精度、低零漂的線性霍爾電路，而銅導(dǎo)流通路靠近晶圓。所施加的電流在流經(jīng)銅導(dǎo)流通路時產(chǎn)生相應(yīng)的磁場，霍爾IC將其轉(zhuǎn)化為成比例的電壓。

通過載流導(dǎo)體與霍爾傳感器的近場測量，并且在工廠通過對靈敏度及零安培輸出電壓進(jìn)行編程，使器件的精度得到了更好的優(yōu)化。

電場增強(qiáng)效果在編程操作開始時和完成后最為明顯，因此對“階躍脈沖”編程法(將編程電壓逐步升高)的可行性進(jìn)行了研究。該技術(shù)過去被用于采用平面結(jié)構(gòu)的內(nèi)存，但目前證明，其在鰭狀結(jié)構(gòu)內(nèi)存中對緩解鰭尖電場增強(qiáng)方面特別有效。

經(jīng)確認(rèn)，對于長時間使用的鰭狀結(jié)構(gòu)SG-MONOS存儲單元，該技術(shù)可以有效減少退化，而且在數(shù)據(jù)存儲閃存中編程/擦除循環(huán)次數(shù)可以達(dá)到25萬次。