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光刻技術(shù)概況

發(fā)布時(shí)間:2008/6/5 0:00:00 訪問(wèn)次數(shù):701

光刻技術(shù)是集成電路的關(guān)鍵技術(shù)之一
  在整個(gè)產(chǎn)品制造中是重要的經(jīng)濟(jì)影響因子,光刻成本占據(jù)了整個(gè)制造成本的35%

  光刻也是決定了集成電路按照摩爾定律發(fā)展的一個(gè)重要原因,如果沒(méi)有光刻技術(shù)的
  進(jìn)步,集成電路就不可能從微米進(jìn)入深亞微米再進(jìn)入納米時(shí)代。

所以說(shuō)光刻系統(tǒng)的先進(jìn)程度也就決定了光刻工程的高低,

光刻系統(tǒng)的組成:

    光刻機(jī)(曝光工具) (光刻工程的核心部分,其造價(jià)昂貴.號(hào)稱(chēng)世界上最精密的儀 器,目前世界是已有7000萬(wàn)美金的光刻機(jī).)


    掩膜版
    光刻膠(常伴隨著光刻機(jī)的發(fā)展而前進(jìn).在一定程度上其也制約著光刻工藝的發(fā)展)

主要指標(biāo):

    分辨率w(resolution)-> 光刻系統(tǒng)所能分辨和加工的最小線條尺寸
    焦深(dof-depth of focus) -> 投影光學(xué)系統(tǒng)可清晰成象的尺度范圍
    關(guān)鍵尺寸(cd-critical dimension)控制
    對(duì)準(zhǔn)和套刻精度(alignment and overlay)
    產(chǎn)率(throughout)
    價(jià)格

其中,w是決定光刻系統(tǒng)最重要的指標(biāo),也是決定芯片最小特征尺寸的原因。
其由瑞利定律決定: r = k1r/na , 其中 r 是光刻波的波長(zhǎng)。

提高光刻分辨率的途徑:

    減小波長(zhǎng)r, 其中, 光刻加工極限值:r/2 , 即半波長(zhǎng)的分辨率
    增加數(shù)值孔徑
    優(yōu)化系統(tǒng)設(shè)計(jì)(分辨率增強(qiáng)技術(shù))
    減小k1

主流光刻技術(shù):
248nm duv技術(shù)(krf準(zhǔn)分子激光) -> 0.10um 特征尺寸
193nm duv技術(shù)(arf準(zhǔn)分子激光) -> 90nm 特征尺寸

新一代的替代光刻技術(shù):
immersion 193nm技術(shù)
157nm f2
euv光刻 紫外線光刻
電子束投影光刻
x射線光刻
離子束光刻
納米印制光刻

光學(xué)透鏡
    透射式透鏡(248nm、193nm)
    反射式透鏡(157nm)

掩膜版
    由透光的襯底材料(石英玻璃)和不透光金屬吸收層材料(主要是金屬cr)組成。
    通常要在表面淀積一層抗深紫外光損傷的增光型保護(hù)涂層

分辨率增強(qiáng)技術(shù)(ret):
     step-scan 技術(shù)
     偏軸照明(oai)
     鄰近效應(yīng)校正(opc)
     移相掩膜(psm)
     具有化學(xué)增強(qiáng)放大功能的快速感光光刻膠
     光刻膠修剪(resist trimming)
     抗反射功能和表面感光后的多層光刻膠



光刻技術(shù)是集成電路的關(guān)鍵技術(shù)之一
  在整個(gè)產(chǎn)品制造中是重要的經(jīng)濟(jì)影響因子,光刻成本占據(jù)了整個(gè)制造成本的35%

  光刻也是決定了集成電路按照摩爾定律發(fā)展的一個(gè)重要原因,如果沒(méi)有光刻技術(shù)的
  進(jìn)步,集成電路就不可能從微米進(jìn)入深亞微米再進(jìn)入納米時(shí)代。

所以說(shuō)光刻系統(tǒng)的先進(jìn)程度也就決定了光刻工程的高低,

光刻系統(tǒng)的組成:

    光刻機(jī)(曝光工具) (光刻工程的核心部分,其造價(jià)昂貴.號(hào)稱(chēng)世界上最精密的儀 器,目前世界是已有7000萬(wàn)美金的光刻機(jī).)


    掩膜版
    光刻膠(常伴隨著光刻機(jī)的發(fā)展而前進(jìn).在一定程度上其也制約著光刻工藝的發(fā)展)

主要指標(biāo):

    分辨率w(resolution)-> 光刻系統(tǒng)所能分辨和加工的最小線條尺寸
    焦深(dof-depth of focus) -> 投影光學(xué)系統(tǒng)可清晰成象的尺度范圍
    關(guān)鍵尺寸(cd-critical dimension)控制
    對(duì)準(zhǔn)和套刻精度(alignment and overlay)
    產(chǎn)率(throughout)
    價(jià)格

其中,w是決定光刻系統(tǒng)最重要的指標(biāo),也是決定芯片最小特征尺寸的原因。
其由瑞利定律決定: r = k1r/na , 其中 r 是光刻波的波長(zhǎng)。

提高光刻分辨率的途徑:

    減小波長(zhǎng)r, 其中, 光刻加工極限值:r/2 , 即半波長(zhǎng)的分辨率
    增加數(shù)值孔徑
    優(yōu)化系統(tǒng)設(shè)計(jì)(分辨率增強(qiáng)技術(shù))
    減小k1

主流光刻技術(shù):
248nm duv技術(shù)(krf準(zhǔn)分子激光) -> 0.10um 特征尺寸
193nm duv技術(shù)(arf準(zhǔn)分子激光) -> 90nm 特征尺寸

新一代的替代光刻技術(shù):
immersion 193nm技術(shù)
157nm f2
euv光刻 紫外線光刻
電子束投影光刻
x射線光刻
離子束光刻
納米印制光刻

光學(xué)透鏡
    透射式透鏡(248nm、193nm)
    反射式透鏡(157nm)

掩膜版
    由透光的襯底材料(石英玻璃)和不透光金屬吸收層材料(主要是金屬cr)組成。
    通常要在表面淀積一層抗深紫外光損傷的增光型保護(hù)涂層

分辨率增強(qiáng)技術(shù)(ret):
     step-scan 技術(shù)
     偏軸照明(oai)
     鄰近效應(yīng)校正(opc)
     移相掩膜(psm)
     具有化學(xué)增強(qiáng)放大功能的快速感光光刻膠
     光刻膠修剪(resist trimming)
     抗反射功能和表面感光后的多層光刻膠



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