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TMAH單晶硅腐蝕特性研究

發(fā)布時(shí)間:2008/6/5 0:00:00 訪問次數(shù):739

  1. 鄧俊泳1,馮勇建2
    (1.廈門大學(xué)機(jī)電工程系,福建 廈門 361005;2.廈門大學(xué)薩本棟微機(jī)電研究中心,福建 廈門 361005)
    摘要:tmah是一種具有優(yōu)良的腐蝕性能的各向民性腐蝕劑,選擇性好,無毒且不污染環(huán)境,最重要的是tmah與cmos工藝相兼容,符合soc的發(fā)展趨勢。tmah正逐漸替代koh和其他腐蝕液,成為實(shí)現(xiàn)mems工藝中微三維結(jié)構(gòu)的主要腐蝕劑。本文著重介紹了tmah的特性、工藝條件及應(yīng)用。

    關(guān)鍵詞:四甲基氫氧化氨;各向異性腐蝕;微機(jī)電系統(tǒng)

    中圖分類號(hào):tn405 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼;a文章編號(hào):1671-4776(2003)12-0032-03


    1引言

    mems是一個(gè)多學(xué)科、多領(lǐng)域交叉的新興學(xué)科,主要研究傳感器、執(zhí)行機(jī)構(gòu)及微小機(jī)械結(jié)構(gòu)。其工藝由ic工藝發(fā)展而來,主要包括清洗、氧化、擴(kuò)散、光刻、腐蝕、氣相沉積、封裝等。與ic工藝不同的是,mems工藝突破了平面工藝的局限,可實(shí)現(xiàn)各種微機(jī)械結(jié)構(gòu)。

    微三維結(jié)構(gòu)是mems中一個(gè)最重要的分支,主要有懸臂梁、硅橋、微流體通道、腔體等。微三維結(jié)構(gòu)的實(shí)現(xiàn)與各向異性腐蝕密切相關(guān)。各向異性腐蝕是mems中的一個(gè)極其重要的工藝,是指在特定的腐蝕液中,硅在某些晶向上的腐蝕速率很大;相比之下,其他晶向則要緩慢得多,甚至可以認(rèn)為不腐蝕。根據(jù)這種特性,選擇適當(dāng)?shù)墓に嚵鞒,可以加工出所需的各種各樣的微結(jié)構(gòu)。目前最常用的各向異性腐蝕劑是koh,但隨著mems逐步向soc發(fā)展(soc為系統(tǒng)芯片,即將cmos電路和微機(jī)械結(jié)構(gòu)集成在同一塊芯片上,這樣將大大提高系統(tǒng)的精度和穩(wěn)定性),koh已經(jīng)暴露出一些致命的不足,如溶液中含金屬離子,與cmos工藝兼容性差等。tmah在ic工業(yè)中是用于vlsi(超大規(guī)模集成電路)的腐蝕工藝的,因其優(yōu)良的性能,正逐漸地進(jìn)入mems工藝中取代koh,成為微三維結(jié)構(gòu)主要實(shí)現(xiàn)方法的腐蝕劑。

    2tmah的性質(zhì)

    2.1tmah的主要物理性質(zhì)

    tmah(tetramethy1 ammonium hydroxide)全稱為四甲基氫氧化氨,分子式為(ch3)4noh,為無色結(jié)晶(常含3,5等結(jié)晶水),極易吸潮,在空氣中能迅速吸收二氧化碳,130 ℃時(shí)分解為甲醇和三甲胺。工藝中通常使用的是10%和25%的水溶液,無色無味。

    2.2tmah與其他各向異性腐蝕液的比較

    目前在mems工藝中使用的其他各向異性腐蝕劑主要有兩類,一類是有機(jī)腐蝕劑,主要有epw(乙二胺,鄰苯二酸和水)、聯(lián)胺等;另一類是堿性腐蝕液,主要有koh,naoh,csoh,nh4oh等。這兩類腐蝕劑都有缺陷,其中epw和聯(lián)胺腐蝕性能很好,但因有劇毒,不易操作。koh具有選擇性好、腐蝕速度快、表面平整等優(yōu)點(diǎn),在工藝中得到廣泛的應(yīng)用,但不足的是koh屬于強(qiáng)堿性溶液,會(huì)污染環(huán)境,且?guī)в薪饘匐x子,比較適合后處理工藝。koh和tmah是目前mems工藝中最常用的各向異性腐蝕劑。

    系統(tǒng)級(jí)芯片(soc)的出現(xiàn)使得上述腐蝕液的缺點(diǎn)更加突出,tmah因其優(yōu)良的腐蝕性能,正逐漸取代koh和epw等腐蝕液的地位,它具有以下優(yōu)點(diǎn):

    (1)與cmos工藝兼容,cmos工藝中最致命的雜質(zhì)就是金屬離子,而tmah中不含金屬離子,對(duì)集成在同一個(gè)芯片上的ic電路不造成傷害;

    (2)具有與koh接近的腐蝕速度和選擇比,腐蝕表面效果好;

    (3)不腐蝕sio2和si3n4,可以選用sio2或si3n4作為掩模;

    (4)無毒無污染,操作方便。

    3實(shí)驗(yàn)裝置

    本實(shí)驗(yàn)用50 mm(2英寸)的p型單晶硅片,實(shí)驗(yàn)裝置如圖1所示,使用恒溫水浴鍋得到穩(wěn)定的實(shí)驗(yàn)溫度。各個(gè)實(shí)驗(yàn)片互相平行放置以減小實(shí)驗(yàn)誤差。先調(diào)節(jié)控制面板,設(shè)定所需的溫度,開始加熱,用溫度計(jì)觀察燒杯里的溶液溫度,當(dāng)溶液溫度與水浴鍋里的溫度一致,并達(dá)到設(shè)定溫度時(shí),才將硅片放入。在腐蝕過程中,不斷攪拌,使溶液保持流通,防止出現(xiàn)局部溶液濃度過低的現(xiàn)象。

    實(shí)驗(yàn)還對(duì)(100)、(110)、(111)面分別進(jìn)行腐蝕以得到tmah全面的腐蝕特性。整個(gè)實(shí)驗(yàn)的工藝流程如下:

    a. 標(biāo)準(zhǔn)清洗硅片,用1號(hào)液、2號(hào)液分別煮沸5 min;

    b. 采用干濕氧化,氧化溫度為1100 ℃,o2流量為4 l/s,先通干氧10 min,再通濕氧40 min,最后再干氧10 min,sio2的厚度約為500 nm;

    c. 采用正膠光刻出方形窗口;

    d. buffer溶液腐蝕6 min,將窗口的sio2腐蝕干凈,形成良好的臺(tái)階,以便測量腐蝕的深度;

    e.

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            鄧俊泳1,馮勇建2
            (1.廈門大學(xué)機(jī)電工程系,福建 廈門 361005;2.廈門大學(xué)薩本棟微機(jī)電研究中心,福建 廈門 361005)
            摘要:tmah是一種具有優(yōu)良的腐蝕性能的各向民性腐蝕劑,選擇性好,無毒且不污染環(huán)境,最重要的是tmah與cmos工藝相兼容,符合soc的發(fā)展趨勢。tmah正逐漸替代koh和其他腐蝕液,成為實(shí)現(xiàn)mems工藝中微三維結(jié)構(gòu)的主要腐蝕劑。本文著重介紹了tmah的特性、工藝條件及應(yīng)用。

            關(guān)鍵詞:四甲基氫氧化氨;各向異性腐蝕;微機(jī)電系統(tǒng)

            中圖分類號(hào):tn405 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼;a文章編號(hào):1671-4776(2003)12-0032-03


            1引言

            mems是一個(gè)多學(xué)科、多領(lǐng)域交叉的新興學(xué)科,主要研究傳感器、執(zhí)行機(jī)構(gòu)及微小機(jī)械結(jié)構(gòu)。其工藝由ic工藝發(fā)展而來,主要包括清洗、氧化、擴(kuò)散、光刻、腐蝕、氣相沉積、封裝等。與ic工藝不同的是,mems工藝突破了平面工藝的局限,可實(shí)現(xiàn)各種微機(jī)械結(jié)構(gòu)。

            微三維結(jié)構(gòu)是mems中一個(gè)最重要的分支,主要有懸臂梁、硅橋、微流體通道、腔體等。微三維結(jié)構(gòu)的實(shí)現(xiàn)與各向異性腐蝕密切相關(guān)。各向異性腐蝕是mems中的一個(gè)極其重要的工藝,是指在特定的腐蝕液中,硅在某些晶向上的腐蝕速率很大;相比之下,其他晶向則要緩慢得多,甚至可以認(rèn)為不腐蝕。根據(jù)這種特性,選擇適當(dāng)?shù)墓に嚵鞒,可以加工出所需的各種各樣的微結(jié)構(gòu)。目前最常用的各向異性腐蝕劑是koh,但隨著mems逐步向soc發(fā)展(soc為系統(tǒng)芯片,即將cmos電路和微機(jī)械結(jié)構(gòu)集成在同一塊芯片上,這樣將大大提高系統(tǒng)的精度和穩(wěn)定性),koh已經(jīng)暴露出一些致命的不足,如溶液中含金屬離子,與cmos工藝兼容性差等。tmah在ic工業(yè)中是用于vlsi(超大規(guī)模集成電路)的腐蝕工藝的,因其優(yōu)良的性能,正逐漸地進(jìn)入mems工藝中取代koh,成為微三維結(jié)構(gòu)主要實(shí)現(xiàn)方法的腐蝕劑。

            2tmah的性質(zhì)

            2.1tmah的主要物理性質(zhì)

            tmah(tetramethy1 ammonium hydroxide)全稱為四甲基氫氧化氨,分子式為(ch3)4noh,為無色結(jié)晶(常含3,5等結(jié)晶水),極易吸潮,在空氣中能迅速吸收二氧化碳,130 ℃時(shí)分解為甲醇和三甲胺。工藝中通常使用的是10%和25%的水溶液,無色無味。

            2.2tmah與其他各向異性腐蝕液的比較

            目前在mems工藝中使用的其他各向異性腐蝕劑主要有兩類,一類是有機(jī)腐蝕劑,主要有epw(乙二胺,鄰苯二酸和水)、聯(lián)胺等;另一類是堿性腐蝕液,主要有koh,naoh,csoh,nh4oh等。這兩類腐蝕劑都有缺陷,其中epw和聯(lián)胺腐蝕性能很好,但因有劇毒,不易操作。koh具有選擇性好、腐蝕速度快、表面平整等優(yōu)點(diǎn),在工藝中得到廣泛的應(yīng)用,但不足的是koh屬于強(qiáng)堿性溶液,會(huì)污染環(huán)境,且?guī)в薪饘匐x子,比較適合后處理工藝。koh和tmah是目前mems工藝中最常用的各向異性腐蝕劑。

            系統(tǒng)級(jí)芯片(soc)的出現(xiàn)使得上述腐蝕液的缺點(diǎn)更加突出,tmah因其優(yōu)良的腐蝕性能,正逐漸取代koh和epw等腐蝕液的地位,它具有以下優(yōu)點(diǎn):

            (1)與cmos工藝兼容,cmos工藝中最致命的雜質(zhì)就是金屬離子,而tmah中不含金屬離子,對(duì)集成在同一個(gè)芯片上的ic電路不造成傷害;

            (2)具有與koh接近的腐蝕速度和選擇比,腐蝕表面效果好;

            (3)不腐蝕sio2和si3n4,可以選用sio2或si3n4作為掩模;

            (4)無毒無污染,操作方便。

            3實(shí)驗(yàn)裝置

            本實(shí)驗(yàn)用50 mm(2英寸)的p型單晶硅片,實(shí)驗(yàn)裝置如圖1所示,使用恒溫水浴鍋得到穩(wěn)定的實(shí)驗(yàn)溫度。各個(gè)實(shí)驗(yàn)片互相平行放置以減小實(shí)驗(yàn)誤差。先調(diào)節(jié)控制面板,設(shè)定所需的溫度,開始加熱,用溫度計(jì)觀察燒杯里的溶液溫度,當(dāng)溶液溫度與水浴鍋里的溫度一致,并達(dá)到設(shè)定溫度時(shí),才將硅片放入。在腐蝕過程中,不斷攪拌,使溶液保持流通,防止出現(xiàn)局部溶液濃度過低的現(xiàn)象。

            實(shí)驗(yàn)還對(duì)(100)、(110)、(111)面分別進(jìn)行腐蝕以得到tmah全面的腐蝕特性。整個(gè)實(shí)驗(yàn)的工藝流程如下:

            a. 標(biāo)準(zhǔn)清洗硅片,用1號(hào)液、2號(hào)液分別煮沸5 min;

            b. 采用干濕氧化,氧化溫度為1100 ℃,o2流量為4 l/s,先通干氧10 min,再通濕氧40 min,最后再干氧10 min,sio2的厚度約為500 nm;

            c. 采用正膠光刻出方形窗口;

            d. buffer溶液腐蝕6 min,將窗口的sio2腐蝕干凈,形成良好的臺(tái)階,以便測量腐蝕的深度;

            e.

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