工序能力分析和SPC技術(shù)的應(yīng)用設(shè)計(jì)
發(fā)布時(shí)間:2012/4/18 19:41:01 訪問次數(shù):648
盡管工藝采用的是經(jīng)過優(yōu)型化確定的條件,但最后實(shí)際得到的SGM2001-3.3XN5/TR工藝參數(shù)還會(huì)呈現(xiàn)一定的分散性,有一部分工藝參數(shù)仍會(huì)超出工藝規(guī)范要求。為此,要根據(jù)設(shè)備的自動(dòng)化程度,設(shè)計(jì)能利用各種工藝參數(shù)監(jiān)測(cè)技術(shù),采取足夠量的工藝參數(shù),進(jìn)行工藝能力分析,確定實(shí)際工藝滿足工藝參數(shù)規(guī)范要求的能力。同時(shí)還要考慮采用SPC技術(shù),用控制圖對(duì)工藝過程實(shí)施在線控制,以確保生產(chǎn)過程始終處于受控狀態(tài)。
可靠性平價(jià)試驗(yàn)設(shè)計(jì)
電子元器件在設(shè)計(jì)定型前需要進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià)試驗(yàn)?煽啃栽u(píng)價(jià)試驗(yàn)一般有極限應(yīng)力試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)、各應(yīng)力下的工作壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)、空間輻照試驗(yàn)(僅適應(yīng)于應(yīng)用空間環(huán)境的電子元器件)、失效模式監(jiān)視試驗(yàn)以及現(xiàn)場(chǎng)試用試驗(yàn)等。在進(jìn)行產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)時(shí)要根據(jù)實(shí)際需要對(duì)這些評(píng)價(jià)試驗(yàn)的方案進(jìn)行設(shè)計(jì),包括試驗(yàn)應(yīng)力、失效判據(jù)、樣品數(shù)量、試驗(yàn)時(shí)間及測(cè)量周期、試驗(yàn)結(jié)果分析等方面。
可靠性平價(jià)試驗(yàn)設(shè)計(jì)
電子元器件在設(shè)計(jì)定型前需要進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià)試驗(yàn)?煽啃栽u(píng)價(jià)試驗(yàn)一般有極限應(yīng)力試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)、各應(yīng)力下的工作壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)、空間輻照試驗(yàn)(僅適應(yīng)于應(yīng)用空間環(huán)境的電子元器件)、失效模式監(jiān)視試驗(yàn)以及現(xiàn)場(chǎng)試用試驗(yàn)等。在進(jìn)行產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)時(shí)要根據(jù)實(shí)際需要對(duì)這些評(píng)價(jià)試驗(yàn)的方案進(jìn)行設(shè)計(jì),包括試驗(yàn)應(yīng)力、失效判據(jù)、樣品數(shù)量、試驗(yàn)時(shí)間及測(cè)量周期、試驗(yàn)結(jié)果分析等方面。
盡管工藝采用的是經(jīng)過優(yōu)型化確定的條件,但最后實(shí)際得到的SGM2001-3.3XN5/TR工藝參數(shù)還會(huì)呈現(xiàn)一定的分散性,有一部分工藝參數(shù)仍會(huì)超出工藝規(guī)范要求。為此,要根據(jù)設(shè)備的自動(dòng)化程度,設(shè)計(jì)能利用各種工藝參數(shù)監(jiān)測(cè)技術(shù),采取足夠量的工藝參數(shù),進(jìn)行工藝能力分析,確定實(shí)際工藝滿足工藝參數(shù)規(guī)范要求的能力。同時(shí)還要考慮采用SPC技術(shù),用控制圖對(duì)工藝過程實(shí)施在線控制,以確保生產(chǎn)過程始終處于受控狀態(tài)。
可靠性平價(jià)試驗(yàn)設(shè)計(jì)
電子元器件在設(shè)計(jì)定型前需要進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià)試驗(yàn)。可靠性評(píng)價(jià)試驗(yàn)一般有極限應(yīng)力試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)、各應(yīng)力下的工作壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)、空間輻照試驗(yàn)(僅適應(yīng)于應(yīng)用空間環(huán)境的電子元器件)、失效模式監(jiān)視試驗(yàn)以及現(xiàn)場(chǎng)試用試驗(yàn)等。在進(jìn)行產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)時(shí)要根據(jù)實(shí)際需要對(duì)這些評(píng)價(jià)試驗(yàn)的方案進(jìn)行設(shè)計(jì),包括試驗(yàn)應(yīng)力、失效判據(jù)、樣品數(shù)量、試驗(yàn)時(shí)間及測(cè)量周期、試驗(yàn)結(jié)果分析等方面。
可靠性平價(jià)試驗(yàn)設(shè)計(jì)
電子元器件在設(shè)計(jì)定型前需要進(jìn)行可靠性評(píng)價(jià)試驗(yàn)。可靠性評(píng)價(jià)試驗(yàn)一般有極限應(yīng)力試驗(yàn)、可靠性鑒定試驗(yàn)、各應(yīng)力下的工作壽命試驗(yàn)和加速壽命試驗(yàn)、空間輻照試驗(yàn)(僅適應(yīng)于應(yīng)用空間環(huán)境的電子元器件)、失效模式監(jiān)視試驗(yàn)以及現(xiàn)場(chǎng)試用試驗(yàn)等。在進(jìn)行產(chǎn)品的可靠性設(shè)計(jì)時(shí)要根據(jù)實(shí)際需要對(duì)這些評(píng)價(jià)試驗(yàn)的方案進(jìn)行設(shè)計(jì),包括試驗(yàn)應(yīng)力、失效判據(jù)、樣品數(shù)量、試驗(yàn)時(shí)間及測(cè)量周期、試驗(yàn)結(jié)果分析等方面。
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