輸入保護電路
發(fā)布時間:2012/4/21 19:59:55 訪問次數(shù):2802
MOS集成電路中,介質(zhì)擊穿ACT355是破壞性的,MOS柵的氧化層一旦發(fā)生擊穿,器件就會失效。因此要采取一定的措施對接?xùn)诺妮斎攵思右员Wo。圖2.7給出了NMOS電路的幾種輸入保護形式。在圖2.7(a)中,在輸入端和地之間加一個反向的二極管,使其正向鉗位于B VD,反向鉗位于FVD,由于在輸入端和VDD,輸入端和輸出端之間都有兩個二極管——正負(fù)串聯(lián),所以使它們兩端的電壓正反向都鉗位于F VD +B VD,從而保證了輸入端的安全;圖2.7(b)是一個柵源矩路的MOSFET輸入保護電路,是利用MOSFET的源漏擊穿進(jìn)行保護的;圖2.7(c)則利用MOS管漏襯P-N結(jié)調(diào)制擊穿進(jìn)行保護。
圖2.8給出了CMOS電路的幾種保護形式,圖2.8(a)是利用二極管D進(jìn)行保護,對PMOS管的柵可以進(jìn)行良好的保護,但對于NMOS管的柵,只能通過由二極管D和阱P-N結(jié)的反相串聯(lián)所形成的P-N-P結(jié)加以保護,這就提高了擊穿電壓,所以對柵保護是不利的。圖2.8(b)和圖2.8(a)的情況類似,只是圖2.8(b)中對NMOS管的保護性能較好;圖2.8(c)利用電阻二極管進(jìn)行保護,其輸入正電位被鉗位在V DD+VF,負(fù)電位被鉗位在VSS- VF,保護電路中的電阻可以起良好的限流作用。
MOS集成電路中,介質(zhì)擊穿ACT355是破壞性的,MOS柵的氧化層一旦發(fā)生擊穿,器件就會失效。因此要采取一定的措施對接?xùn)诺妮斎攵思右员Wo。圖2.7給出了NMOS電路的幾種輸入保護形式。在圖2.7(a)中,在輸入端和地之間加一個反向的二極管,使其正向鉗位于B VD,反向鉗位于FVD,由于在輸入端和VDD,輸入端和輸出端之間都有兩個二極管——正負(fù)串聯(lián),所以使它們兩端的電壓正反向都鉗位于F VD +B VD,從而保證了輸入端的安全;圖2.7(b)是一個柵源矩路的MOSFET輸入保護電路,是利用MOSFET的源漏擊穿進(jìn)行保護的;圖2.7(c)則利用MOS管漏襯P-N結(jié)調(diào)制擊穿進(jìn)行保護。
圖2.8給出了CMOS電路的幾種保護形式,圖2.8(a)是利用二極管D進(jìn)行保護,對PMOS管的柵可以進(jìn)行良好的保護,但對于NMOS管的柵,只能通過由二極管D和阱P-N結(jié)的反相串聯(lián)所形成的P-N-P結(jié)加以保護,這就提高了擊穿電壓,所以對柵保護是不利的。圖2.8(b)和圖2.8(a)的情況類似,只是圖2.8(b)中對NMOS管的保護性能較好;圖2.8(c)利用電阻二極管進(jìn)行保護,其輸入正電位被鉗位在V DD+VF,負(fù)電位被鉗位在VSS- VF,保護電路中的電阻可以起良好的限流作用。
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