控制輻射損傷失效的可靠性設(shè)計
發(fā)布時間:2012/5/6 15:34:48 訪問次數(shù):673
1.控制輻射損傷失效的可靠性設(shè)計
聲表面波器件的抗輻射能力強(qiáng)，動態(tài)范PS2801-4圍很大(可達(dá)lOOdB)。這是因為它利用的是晶體表面的彈性波。
航天環(huán)境和核環(huán)境工作的聲表面波器件會受到能量很大的質(zhì)子、中子、電子和丫射線的照射。這些粒子輻照有可能會使聲表面波器件發(fā)生結(jié)構(gòu)微損傷引起器件失效。對高可靠性應(yīng)用要求的聲表面波器件，在內(nèi)部結(jié)構(gòu)設(shè)計中可考慮采用：
①抗輻射材料，目的是減少輻照下微損傷。
②減少易產(chǎn)生或積存電荷的結(jié)構(gòu)。在外部結(jié)構(gòu)方面，主要是采用阻擋輻照粒子的結(jié)構(gòu)設(shè)計，例如加大封裝厚度、選擇強(qiáng)阻擋能力的封裝材料。
2.三防設(shè)計
防潮濕、鹽霧、霉菌的設(shè)計（三防設(shè)計）是聲表面波器件可靠性設(shè)計中的一項重要內(nèi)容。
由潮濕、鹽霧、霉菌引起的失效模式有兩類。一類是發(fā)生化學(xué)變化如腐蝕、銹蝕使結(jié)構(gòu)損壞；另一類是引起的物理變化，如使電極間的電導(dǎo)增加而使電性能超差等。聲表面波器件的三防設(shè)計內(nèi)容是釙殼表面金屬的化學(xué)穩(wěn)定性、涂覆層的物理化學(xué)穩(wěn)定性和疏水性滅菌性能以及聲表面波器件的內(nèi)部水汽含量和密封結(jié)構(gòu)設(shè)計。
3.抗低氣壓的可靠性設(shè)計
聲表面波器件與低氣壓有關(guān)的失效模式是在低氣壓下器件外殼發(fā)生幾何變形引起失效。通過外殼結(jié)構(gòu)設(shè)計，保證器件有足夠的強(qiáng)度控制這一失效模式。
聲表面波器件的抗輻射能力強(qiáng)，動態(tài)范PS2801-4圍很大(可達(dá)lOOdB)。這是因為它利用的是晶體表面的彈性波。
航天環(huán)境和核環(huán)境工作的聲表面波器件會受到能量很大的質(zhì)子、中子、電子和丫射線的照射。這些粒子輻照有可能會使聲表面波器件發(fā)生結(jié)構(gòu)微損傷引起器件失效。對高可靠性應(yīng)用要求的聲表面波器件，在內(nèi)部結(jié)構(gòu)設(shè)計中可考慮采用：
①抗輻射材料，目的是減少輻照下微損傷。
②減少易產(chǎn)生或積存電荷的結(jié)構(gòu)。在外部結(jié)構(gòu)方面，主要是采用阻擋輻照粒子的結(jié)構(gòu)設(shè)計，例如加大封裝厚度、選擇強(qiáng)阻擋能力的封裝材料。
2.三防設(shè)計
防潮濕、鹽霧、霉菌的設(shè)計（三防設(shè)計）是聲表面波器件可靠性設(shè)計中的一項重要內(nèi)容。
由潮濕、鹽霧、霉菌引起的失效模式有兩類。一類是發(fā)生化學(xué)變化如腐蝕、銹蝕使結(jié)構(gòu)損壞；另一類是引起的物理變化，如使電極間的電導(dǎo)增加而使電性能超差等。聲表面波器件的三防設(shè)計內(nèi)容是釙殼表面金屬的化學(xué)穩(wěn)定性、涂覆層的物理化學(xué)穩(wěn)定性和疏水性滅菌性能以及聲表面波器件的內(nèi)部水汽含量和密封結(jié)構(gòu)設(shè)計。
3.抗低氣壓的可靠性設(shè)計
聲表面波器件與低氣壓有關(guān)的失效模式是在低氣壓下器件外殼發(fā)生幾何變形引起失效。通過外殼結(jié)構(gòu)設(shè)計，保證器件有足夠的強(qiáng)度控制這一失效模式。
1.控制輻射損傷失效的可靠性設(shè)計
聲表面波器件的抗輻射能力強(qiáng)，動態(tài)范PS2801-4圍很大(可達(dá)lOOdB)。這是因為它利用的是晶體表面的彈性波。
航天環(huán)境和核環(huán)境工作的聲表面波器件會受到能量很大的質(zhì)子、中子、電子和丫射線的照射。這些粒子輻照有可能會使聲表面波器件發(fā)生結(jié)構(gòu)微損傷引起器件失效。對高可靠性應(yīng)用要求的聲表面波器件，在內(nèi)部結(jié)構(gòu)設(shè)計中可考慮采用：
①抗輻射材料，目的是減少輻照下微損傷。
②減少易產(chǎn)生或積存電荷的結(jié)構(gòu)。在外部結(jié)構(gòu)方面，主要是采用阻擋輻照粒子的結(jié)構(gòu)設(shè)計，例如加大封裝厚度、選擇強(qiáng)阻擋能力的封裝材料。
2.三防設(shè)計
防潮濕、鹽霧、霉菌的設(shè)計（三防設(shè)計）是聲表面波器件可靠性設(shè)計中的一項重要內(nèi)容。
由潮濕、鹽霧、霉菌引起的失效模式有兩類。一類是發(fā)生化學(xué)變化如腐蝕、銹蝕使結(jié)構(gòu)損壞；另一類是引起的物理變化，如使電極間的電導(dǎo)增加而使電性能超差等。聲表面波器件的三防設(shè)計內(nèi)容是釙殼表面金屬的化學(xué)穩(wěn)定性、涂覆層的物理化學(xué)穩(wěn)定性和疏水性滅菌性能以及聲表面波器件的內(nèi)部水汽含量和密封結(jié)構(gòu)設(shè)計。
3.抗低氣壓的可靠性設(shè)計
聲表面波器件與低氣壓有關(guān)的失效模式是在低氣壓下器件外殼發(fā)生幾何變形引起失效。通過外殼結(jié)構(gòu)設(shè)計，保證器件有足夠的強(qiáng)度控制這一失效模式。
聲表面波器件的抗輻射能力強(qiáng)，動態(tài)范PS2801-4圍很大(可達(dá)lOOdB)。這是因為它利用的是晶體表面的彈性波。
航天環(huán)境和核環(huán)境工作的聲表面波器件會受到能量很大的質(zhì)子、中子、電子和丫射線的照射。這些粒子輻照有可能會使聲表面波器件發(fā)生結(jié)構(gòu)微損傷引起器件失效。對高可靠性應(yīng)用要求的聲表面波器件，在內(nèi)部結(jié)構(gòu)設(shè)計中可考慮采用：
①抗輻射材料，目的是減少輻照下微損傷。
②減少易產(chǎn)生或積存電荷的結(jié)構(gòu)。在外部結(jié)構(gòu)方面，主要是采用阻擋輻照粒子的結(jié)構(gòu)設(shè)計，例如加大封裝厚度、選擇強(qiáng)阻擋能力的封裝材料。
2.三防設(shè)計
防潮濕、鹽霧、霉菌的設(shè)計（三防設(shè)計）是聲表面波器件可靠性設(shè)計中的一項重要內(nèi)容。
由潮濕、鹽霧、霉菌引起的失效模式有兩類。一類是發(fā)生化學(xué)變化如腐蝕、銹蝕使結(jié)構(gòu)損壞；另一類是引起的物理變化，如使電極間的電導(dǎo)增加而使電性能超差等。聲表面波器件的三防設(shè)計內(nèi)容是釙殼表面金屬的化學(xué)穩(wěn)定性、涂覆層的物理化學(xué)穩(wěn)定性和疏水性滅菌性能以及聲表面波器件的內(nèi)部水汽含量和密封結(jié)構(gòu)設(shè)計。
3.抗低氣壓的可靠性設(shè)計
聲表面波器件與低氣壓有關(guān)的失效模式是在低氣壓下器件外殼發(fā)生幾何變形引起失效。通過外殼結(jié)構(gòu)設(shè)計，保證器件有足夠的強(qiáng)度控制這一失效模式。
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