X射線檢測(cè)儀的工作原理
發(fā)布時(shí)間:2012/8/11 19:31:35 訪問次數(shù):9289
X射線檢測(cè)儀是根據(jù)X射線穿透被測(cè)物12061A330KAT2A時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行厚度測(cè)量的，即測(cè)量被測(cè)材料所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過前置放大器放大，再由專用操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為直觀的實(shí)際厚度信號(hào)顯示給操作人員。
X射線源輻射強(qiáng)度的大小，與X射線管的發(fā)射強(qiáng)度和被測(cè)材料所吸收的X射線強(qiáng)度有關(guān)。為了確定一個(gè)在系統(tǒng)量程范圍內(nèi)的給定厚度所需的X射線能量值，可利用M215型X射線檢測(cè)儀進(jìn)行校準(zhǔn)。在檢測(cè)任意特殊厚度時(shí)，系統(tǒng)將設(shè)定X射線的能量值，使檢測(cè)能夠順利完成。
在厚度一定的情況下，X射線的能量值為常量。當(dāng)安全快門打開時(shí)，X射線將從X射線源和探頭之間的被測(cè)材料中通過，被測(cè)材料將一部分能量吸收，剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉(zhuǎn)換為與之大小相關(guān)的輸出電壓。如果改變被測(cè)材料的厚度，則所吸收的X射線量也將改變，這將使探頭所接收的X射線量發(fā)生變化，檢測(cè)信號(hào)也隨之發(fā)生相應(yīng)的變化。
簡而言之，射線在穿透一定的物質(zhì)時(shí)，其強(qiáng)度呈指數(shù)規(guī)律衰減，這和半衰期的公式相似，其公式為
I=TrxEXP(-U，X)
式中Tr一初始射線強(qiáng)度；
I一穿過物體后的射線強(qiáng)度；
U一衰減系數(shù)；
X-射線穿過的厚度。
對(duì)于不同昀材料，其U值是不同的，因此使用射線測(cè)量厚度時(shí)必須知道被測(cè)材料的U值。一般而言，密度越大的材料其U值就越大。例如，鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，對(duì)射線的阻擋能力最強(qiáng)，因此在核技術(shù)實(shí)驗(yàn)中用做防護(hù)材料。
X射線檢測(cè)儀是利用X射線的穿透能力，在工業(yè)上一般用于檢測(cè)一些人眼所看不到的物品內(nèi)部傷斷缺陷或電路的短路故障等。例如，檢測(cè)多層基板內(nèi)部電路有無短路，X射線可穿透基板的表面到達(dá)基板的內(nèi)部電路，在X射線發(fā)生器對(duì)面有個(gè)數(shù)據(jù)接收器，自動(dòng)將接收到的輻射轉(zhuǎn)換成電信號(hào)并傳到擴(kuò)張板中，通過專用的軟件將圖像在顯示器中顯示出來，這樣操作人員就可以觀測(cè)到基板的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
X射線源輻射強(qiáng)度的大小，與X射線管的發(fā)射強(qiáng)度和被測(cè)材料所吸收的X射線強(qiáng)度有關(guān)。為了確定一個(gè)在系統(tǒng)量程范圍內(nèi)的給定厚度所需的X射線能量值，可利用M215型X射線檢測(cè)儀進(jìn)行校準(zhǔn)。在檢測(cè)任意特殊厚度時(shí)，系統(tǒng)將設(shè)定X射線的能量值，使檢測(cè)能夠順利完成。
在厚度一定的情況下，X射線的能量值為常量。當(dāng)安全快門打開時(shí)，X射線將從X射線源和探頭之間的被測(cè)材料中通過，被測(cè)材料將一部分能量吸收，剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉(zhuǎn)換為與之大小相關(guān)的輸出電壓。如果改變被測(cè)材料的厚度，則所吸收的X射線量也將改變，這將使探頭所接收的X射線量發(fā)生變化，檢測(cè)信號(hào)也隨之發(fā)生相應(yīng)的變化。
簡而言之，射線在穿透一定的物質(zhì)時(shí)，其強(qiáng)度呈指數(shù)規(guī)律衰減，這和半衰期的公式相似，其公式為
I=TrxEXP(-U，X)
式中Tr一初始射線強(qiáng)度；
I一穿過物體后的射線強(qiáng)度；
U一衰減系數(shù)；
X-射線穿過的厚度。
對(duì)于不同昀材料，其U值是不同的，因此使用射線測(cè)量厚度時(shí)必須知道被測(cè)材料的U值。一般而言，密度越大的材料其U值就越大。例如，鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，對(duì)射線的阻擋能力最強(qiáng)，因此在核技術(shù)實(shí)驗(yàn)中用做防護(hù)材料。
X射線檢測(cè)儀是利用X射線的穿透能力，在工業(yè)上一般用于檢測(cè)一些人眼所看不到的物品內(nèi)部傷斷缺陷或電路的短路故障等。例如，檢測(cè)多層基板內(nèi)部電路有無短路，X射線可穿透基板的表面到達(dá)基板的內(nèi)部電路，在X射線發(fā)生器對(duì)面有個(gè)數(shù)據(jù)接收器，自動(dòng)將接收到的輻射轉(zhuǎn)換成電信號(hào)并傳到擴(kuò)張板中，通過專用的軟件將圖像在顯示器中顯示出來，這樣操作人員就可以觀測(cè)到基板的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
X射線檢測(cè)儀是根據(jù)X射線穿透被測(cè)物12061A330KAT2A時(shí)的強(qiáng)度衰減來進(jìn)行厚度測(cè)量的，即測(cè)量被測(cè)材料所吸收的X射線量，根據(jù)該X射線的能量值，確定被測(cè)件的厚度。由X射線探測(cè)頭將接收到的信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，經(jīng)過前置放大器放大，再由專用操作系統(tǒng)轉(zhuǎn)換為直觀的實(shí)際厚度信號(hào)顯示給操作人員。
X射線源輻射強(qiáng)度的大小，與X射線管的發(fā)射強(qiáng)度和被測(cè)材料所吸收的X射線強(qiáng)度有關(guān)。為了確定一個(gè)在系統(tǒng)量程范圍內(nèi)的給定厚度所需的X射線能量值，可利用M215型X射線檢測(cè)儀進(jìn)行校準(zhǔn)。在檢測(cè)任意特殊厚度時(shí)，系統(tǒng)將設(shè)定X射線的能量值，使檢測(cè)能夠順利完成。
在厚度一定的情況下，X射線的能量值為常量。當(dāng)安全快門打開時(shí)，X射線將從X射線源和探頭之間的被測(cè)材料中通過，被測(cè)材料將一部分能量吸收，剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉(zhuǎn)換為與之大小相關(guān)的輸出電壓。如果改變被測(cè)材料的厚度，則所吸收的X射線量也將改變，這將使探頭所接收的X射線量發(fā)生變化，檢測(cè)信號(hào)也隨之發(fā)生相應(yīng)的變化。
簡而言之，射線在穿透一定的物質(zhì)時(shí)，其強(qiáng)度呈指數(shù)規(guī)律衰減，這和半衰期的公式相似，其公式為
I=TrxEXP(-U，X)
式中Tr一初始射線強(qiáng)度；
I一穿過物體后的射線強(qiáng)度；
U一衰減系數(shù)；
X-射線穿過的厚度。
對(duì)于不同昀材料，其U值是不同的，因此使用射線測(cè)量厚度時(shí)必須知道被測(cè)材料的U值。一般而言，密度越大的材料其U值就越大。例如，鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，對(duì)射線的阻擋能力最強(qiáng)，因此在核技術(shù)實(shí)驗(yàn)中用做防護(hù)材料。
X射線檢測(cè)儀是利用X射線的穿透能力，在工業(yè)上一般用于檢測(cè)一些人眼所看不到的物品內(nèi)部傷斷缺陷或電路的短路故障等。例如，檢測(cè)多層基板內(nèi)部電路有無短路，X射線可穿透基板的表面到達(dá)基板的內(nèi)部電路，在X射線發(fā)生器對(duì)面有個(gè)數(shù)據(jù)接收器，自動(dòng)將接收到的輻射轉(zhuǎn)換成電信號(hào)并傳到擴(kuò)張板中，通過專用的軟件將圖像在顯示器中顯示出來，這樣操作人員就可以觀測(cè)到基板的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
X射線源輻射強(qiáng)度的大小，與X射線管的發(fā)射強(qiáng)度和被測(cè)材料所吸收的X射線強(qiáng)度有關(guān)。為了確定一個(gè)在系統(tǒng)量程范圍內(nèi)的給定厚度所需的X射線能量值，可利用M215型X射線檢測(cè)儀進(jìn)行校準(zhǔn)。在檢測(cè)任意特殊厚度時(shí)，系統(tǒng)將設(shè)定X射線的能量值，使檢測(cè)能夠順利完成。
在厚度一定的情況下，X射線的能量值為常量。當(dāng)安全快門打開時(shí)，X射線將從X射線源和探頭之間的被測(cè)材料中通過，被測(cè)材料將一部分能量吸收，剩余的X射線被位于X射線源正上方的探頭接收，探頭將所接收的X射線轉(zhuǎn)換為與之大小相關(guān)的輸出電壓。如果改變被測(cè)材料的厚度，則所吸收的X射線量也將改變，這將使探頭所接收的X射線量發(fā)生變化，檢測(cè)信號(hào)也隨之發(fā)生相應(yīng)的變化。
簡而言之，射線在穿透一定的物質(zhì)時(shí)，其強(qiáng)度呈指數(shù)規(guī)律衰減，這和半衰期的公式相似，其公式為
I=TrxEXP(-U，X)
式中Tr一初始射線強(qiáng)度；
I一穿過物體后的射線強(qiáng)度；
U一衰減系數(shù)；
X-射線穿過的厚度。
對(duì)于不同昀材料，其U值是不同的，因此使用射線測(cè)量厚度時(shí)必須知道被測(cè)材料的U值。一般而言，密度越大的材料其U值就越大。例如，鉛的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，對(duì)射線的阻擋能力最強(qiáng)，因此在核技術(shù)實(shí)驗(yàn)中用做防護(hù)材料。
X射線檢測(cè)儀是利用X射線的穿透能力，在工業(yè)上一般用于檢測(cè)一些人眼所看不到的物品內(nèi)部傷斷缺陷或電路的短路故障等。例如，檢測(cè)多層基板內(nèi)部電路有無短路，X射線可穿透基板的表面到達(dá)基板的內(nèi)部電路，在X射線發(fā)生器對(duì)面有個(gè)數(shù)據(jù)接收器，自動(dòng)將接收到的輻射轉(zhuǎn)換成電信號(hào)并傳到擴(kuò)張板中，通過專用的軟件將圖像在顯示器中顯示出來，這樣操作人員就可以觀測(cè)到基板的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
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