器件的測試
發(fā)布時間:2012/8/11 19:46:04 訪問次數(shù):1260
1)隔離原理
隔離為在線測試很重要的一種1206ZD335KAT2A應(yīng)用技術(shù)，它是將與待測零件相連接的零件予以隔離，使待測零件的測量不受影響。應(yīng)用電壓跟隨器( Voltage Follower)的輸出電壓與其輸入電壓相等，以及運(yùn)算放大器的兩輸入端間虛地( Verdure Grand)的原理，使得與待測零件相連的零件的兩端同電位，而不會產(chǎn)生分電流影響待測零件的測量。
2)電阻的測試原理
(1)定電流測量法：這是常用的電阻測量方法，必須與隔離實(shí)施配合。
(2)定電壓測量法：對于與大電容并聯(lián)的電阻而言，如果使用定電流測量法，需要較長的充電時間，因此使用應(yīng)用運(yùn)算放大器的反相放大原理，實(shí)施定電壓測量法較佳。
(3)相位測量法：當(dāng)電阻與電容并聯(lián)或電阻與電感并聯(lián)時，使用相位測量法可一并測量出電阻與電容（或電感）。這種方法的原理為送出交流電壓至待測零件，利用相位差分別測出電阻與電抗所形成的電壓，從而計(jì)算出電阻與電容（或電感）的值。
3)電容（電感）的測試原理
(1)交流定電壓測量法：應(yīng)用運(yùn)算放大器的反相放大原理，可計(jì)算出電容的值。
(2)直流定電流測量法：對于較大容量的電容（3LrF以上），可使用直流定電流對電客充電，由于充電電壓與其充電時間呈線性關(guān)系，故可通過其斜率來計(jì)算出電容的值。
(3)相位測量法：與上述測量電阻的相位測量法相同。
4)二極管的測試原理
(1)普通二極管采用順向電壓測量法，來辨別二極管的好壞。
(2)若為穩(wěn)壓二極管，則采用反向崩潰電壓測量法，來辨別穩(wěn)壓二極管的好壞。
5)三極管的測試原理
分別在三極管的集電極( Collector)與基極(Base)加上電壓，再通過測試集電極與發(fā)射極之間的電壓值來辨別三極管的好壞。
6)光耦合晶體的測試原理
(1)輸入端：應(yīng)用二極管的測試原理。
(2)輸出端：輸入端加上順向電壓，通過集極與射極之間的電壓值來辨別光耦合晶體的好壞。
7)集成電路掃描測試
在集成電路(IC)輸入端加上定電流電壓后，可由測得的順向電壓值來辨別集成電路是否有故障。
8) HP Test Jet測試技術(shù)
HP Test Jet測試技術(shù)，大大改善了集成電路（尤其是SMD型IC）的測試，其原理如下：
(1)經(jīng)探針將200mV/lOkHz的信號加于測試點(diǎn)；
(2)由于IC內(nèi)核至IC引腳之間的布線，與Test Jet測試板形成了微小電容；
(3)經(jīng)上述微小電容的耦合，若IC內(nèi)部未斷線及引腳焊點(diǎn)正常，則在Test Jet測試板上可收到lOkHz的信號，若無信號則表示IC內(nèi)部斷線或接腳焊點(diǎn)不正常。
隔離為在線測試很重要的一種1206ZD335KAT2A應(yīng)用技術(shù)，它是將與待測零件相連接的零件予以隔離，使待測零件的測量不受影響。應(yīng)用電壓跟隨器( Voltage Follower)的輸出電壓與其輸入電壓相等，以及運(yùn)算放大器的兩輸入端間虛地( Verdure Grand)的原理，使得與待測零件相連的零件的兩端同電位，而不會產(chǎn)生分電流影響待測零件的測量。
2)電阻的測試原理
(1)定電流測量法：這是常用的電阻測量方法，必須與隔離實(shí)施配合。
(2)定電壓測量法：對于與大電容并聯(lián)的電阻而言，如果使用定電流測量法，需要較長的充電時間，因此使用應(yīng)用運(yùn)算放大器的反相放大原理，實(shí)施定電壓測量法較佳。
(3)相位測量法：當(dāng)電阻與電容并聯(lián)或電阻與電感并聯(lián)時，使用相位測量法可一并測量出電阻與電容（或電感）。這種方法的原理為送出交流電壓至待測零件，利用相位差分別測出電阻與電抗所形成的電壓，從而計(jì)算出電阻與電容（或電感）的值。
3)電容（電感）的測試原理
(1)交流定電壓測量法：應(yīng)用運(yùn)算放大器的反相放大原理，可計(jì)算出電容的值。
(2)直流定電流測量法：對于較大容量的電容（3LrF以上），可使用直流定電流對電客充電，由于充電電壓與其充電時間呈線性關(guān)系，故可通過其斜率來計(jì)算出電容的值。
(3)相位測量法：與上述測量電阻的相位測量法相同。
4)二極管的測試原理
(1)普通二極管采用順向電壓測量法，來辨別二極管的好壞。
(2)若為穩(wěn)壓二極管，則采用反向崩潰電壓測量法，來辨別穩(wěn)壓二極管的好壞。
5)三極管的測試原理
分別在三極管的集電極( Collector)與基極(Base)加上電壓，再通過測試集電極與發(fā)射極之間的電壓值來辨別三極管的好壞。
6)光耦合晶體的測試原理
(1)輸入端：應(yīng)用二極管的測試原理。
(2)輸出端：輸入端加上順向電壓，通過集極與射極之間的電壓值來辨別光耦合晶體的好壞。
7)集成電路掃描測試
在集成電路(IC)輸入端加上定電流電壓后，可由測得的順向電壓值來辨別集成電路是否有故障。
8) HP Test Jet測試技術(shù)
HP Test Jet測試技術(shù)，大大改善了集成電路（尤其是SMD型IC）的測試，其原理如下：
(1)經(jīng)探針將200mV/lOkHz的信號加于測試點(diǎn)；
(2)由于IC內(nèi)核至IC引腳之間的布線，與Test Jet測試板形成了微小電容；
(3)經(jīng)上述微小電容的耦合，若IC內(nèi)部未斷線及引腳焊點(diǎn)正常，則在Test Jet測試板上可收到lOkHz的信號，若無信號則表示IC內(nèi)部斷線或接腳焊點(diǎn)不正常。
1)隔離原理
隔離為在線測試很重要的一種1206ZD335KAT2A應(yīng)用技術(shù)，它是將與待測零件相連接的零件予以隔離，使待測零件的測量不受影響。應(yīng)用電壓跟隨器( Voltage Follower)的輸出電壓與其輸入電壓相等，以及運(yùn)算放大器的兩輸入端間虛地( Verdure Grand)的原理，使得與待測零件相連的零件的兩端同電位，而不會產(chǎn)生分電流影響待測零件的測量。
2)電阻的測試原理
(1)定電流測量法：這是常用的電阻測量方法，必須與隔離實(shí)施配合。
(2)定電壓測量法：對于與大電容并聯(lián)的電阻而言，如果使用定電流測量法，需要較長的充電時間，因此使用應(yīng)用運(yùn)算放大器的反相放大原理，實(shí)施定電壓測量法較佳。
(3)相位測量法：當(dāng)電阻與電容并聯(lián)或電阻與電感并聯(lián)時，使用相位測量法可一并測量出電阻與電容（或電感）。這種方法的原理為送出交流電壓至待測零件，利用相位差分別測出電阻與電抗所形成的電壓，從而計(jì)算出電阻與電容（或電感）的值。
3)電容（電感）的測試原理
(1)交流定電壓測量法：應(yīng)用運(yùn)算放大器的反相放大原理，可計(jì)算出電容的值。
(2)直流定電流測量法：對于較大容量的電容（3LrF以上），可使用直流定電流對電客充電，由于充電電壓與其充電時間呈線性關(guān)系，故可通過其斜率來計(jì)算出電容的值。
(3)相位測量法：與上述測量電阻的相位測量法相同。
4)二極管的測試原理
(1)普通二極管采用順向電壓測量法，來辨別二極管的好壞。
(2)若為穩(wěn)壓二極管，則采用反向崩潰電壓測量法，來辨別穩(wěn)壓二極管的好壞。
5)三極管的測試原理
分別在三極管的集電極( Collector)與基極(Base)加上電壓，再通過測試集電極與發(fā)射極之間的電壓值來辨別三極管的好壞。
6)光耦合晶體的測試原理
(1)輸入端：應(yīng)用二極管的測試原理。
(2)輸出端：輸入端加上順向電壓，通過集極與射極之間的電壓值來辨別光耦合晶體的好壞。
7)集成電路掃描測試
在集成電路(IC)輸入端加上定電流電壓后，可由測得的順向電壓值來辨別集成電路是否有故障。
8) HP Test Jet測試技術(shù)
HP Test Jet測試技術(shù)，大大改善了集成電路（尤其是SMD型IC）的測試，其原理如下：
(1)經(jīng)探針將200mV/lOkHz的信號加于測試點(diǎn)；
(2)由于IC內(nèi)核至IC引腳之間的布線，與Test Jet測試板形成了微小電容；
(3)經(jīng)上述微小電容的耦合，若IC內(nèi)部未斷線及引腳焊點(diǎn)正常，則在Test Jet測試板上可收到lOkHz的信號，若無信號則表示IC內(nèi)部斷線或接腳焊點(diǎn)不正常。
隔離為在線測試很重要的一種1206ZD335KAT2A應(yīng)用技術(shù)，它是將與待測零件相連接的零件予以隔離，使待測零件的測量不受影響。應(yīng)用電壓跟隨器( Voltage Follower)的輸出電壓與其輸入電壓相等，以及運(yùn)算放大器的兩輸入端間虛地( Verdure Grand)的原理，使得與待測零件相連的零件的兩端同電位，而不會產(chǎn)生分電流影響待測零件的測量。
2)電阻的測試原理
(1)定電流測量法：這是常用的電阻測量方法，必須與隔離實(shí)施配合。
(2)定電壓測量法：對于與大電容并聯(lián)的電阻而言，如果使用定電流測量法，需要較長的充電時間，因此使用應(yīng)用運(yùn)算放大器的反相放大原理，實(shí)施定電壓測量法較佳。
(3)相位測量法：當(dāng)電阻與電容并聯(lián)或電阻與電感并聯(lián)時，使用相位測量法可一并測量出電阻與電容（或電感）。這種方法的原理為送出交流電壓至待測零件，利用相位差分別測出電阻與電抗所形成的電壓，從而計(jì)算出電阻與電容（或電感）的值。
3)電容（電感）的測試原理
(1)交流定電壓測量法：應(yīng)用運(yùn)算放大器的反相放大原理，可計(jì)算出電容的值。
(2)直流定電流測量法：對于較大容量的電容（3LrF以上），可使用直流定電流對電客充電，由于充電電壓與其充電時間呈線性關(guān)系，故可通過其斜率來計(jì)算出電容的值。
(3)相位測量法：與上述測量電阻的相位測量法相同。
4)二極管的測試原理
(1)普通二極管采用順向電壓測量法，來辨別二極管的好壞。
(2)若為穩(wěn)壓二極管，則采用反向崩潰電壓測量法，來辨別穩(wěn)壓二極管的好壞。
5)三極管的測試原理
分別在三極管的集電極( Collector)與基極(Base)加上電壓，再通過測試集電極與發(fā)射極之間的電壓值來辨別三極管的好壞。
6)光耦合晶體的測試原理
(1)輸入端：應(yīng)用二極管的測試原理。
(2)輸出端：輸入端加上順向電壓，通過集極與射極之間的電壓值來辨別光耦合晶體的好壞。
7)集成電路掃描測試
在集成電路(IC)輸入端加上定電流電壓后，可由測得的順向電壓值來辨別集成電路是否有故障。
8) HP Test Jet測試技術(shù)
HP Test Jet測試技術(shù)，大大改善了集成電路（尤其是SMD型IC）的測試，其原理如下：
(1)經(jīng)探針將200mV/lOkHz的信號加于測試點(diǎn)；
(2)由于IC內(nèi)核至IC引腳之間的布線，與Test Jet測試板形成了微小電容；
(3)經(jīng)上述微小電容的耦合，若IC內(nèi)部未斷線及引腳焊點(diǎn)正常，則在Test Jet測試板上可收到lOkHz的信號，若無信號則表示IC內(nèi)部斷線或接腳焊點(diǎn)不正常。
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