帶有邊界掃描功能的器件
發(fā)布時(shí)間:2012/10/13 19:54:30 訪問(wèn)次數(shù):802
帶有邊界掃描功UC1875LP883WIP能的器件，在使用時(shí)通常IC外部只要增加5個(gè)引腳，即
●TCK:測(cè)試時(shí)鐘（獨(dú)立于lC主時(shí)鐘），又稱為掃描時(shí)鐘引腳；
●TMS:測(cè)試模式選擇；
●TDI:數(shù)字串行移入端；
●TDO:數(shù)字串行移出端；
●TRST:復(fù)位端。
這5個(gè)引腳構(gòu)成5個(gè)測(cè)試點(diǎn)，利用5個(gè)引腳就可以進(jìn)行整個(gè)邊界掃描，器件引腳的開(kāi)路／短路能方便地測(cè)試出，同時(shí)也實(shí)現(xiàn)了器件本身內(nèi)部功能邏輯測(cè)試。
測(cè)試時(shí)只要向BS器件發(fā)送自測(cè)試的啟動(dòng)命令和最后接收到的go/no go報(bào)告，以及有關(guān)內(nèi)部診斷信息就可以方便地知道BS器件的芯片質(zhì)量和焊接效果。有時(shí)當(dāng)帶有BS器件與非邊界掃描器件混裝酌組件板也可以用周邊BS器件的I/O引腳作為自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(AutomatedTest Equipment，ATE)的虛擬通道來(lái)檢測(cè)與之相關(guān)的非邊界掃描器件�？傊�，BS器件的問(wèn)世既提高了器件本身的可測(cè)試性，又降低了對(duì)IC-ATE的要求。
邊界掃描技術(shù)以其虛擬的接觸解決了高密度、細(xì)間距引腳難以測(cè)試的問(wèn)題，復(fù)雜的VLSI、ASIC器件引腳故障測(cè)試也變得簡(jiǎn)單易行，它可以完全不考慮器件的內(nèi)部邏輯。盡管邊界掃描單元增加了器件的費(fèi)用，但由于器件的可測(cè)性提高，使用合格率大大提高，受到用戶的歡迎。與此同時(shí)，相應(yīng)的ATE無(wú)論是IC-ATE還是PCB-ATE都具備了檢測(cè)BS器件相應(yīng)的軟硬件能力。世界上著名的測(cè)試儀制造廠商，如HP公司、GerRad公司和Teradyne公司推出的ICT均帶有能測(cè)試多種BS器件功能，如Teradyne公司產(chǎn)品21800系列Spectrum8800系列測(cè)試儀所配備的BS測(cè)試軟件VICTORY是較早完成并用于實(shí)際的系統(tǒng)。
●TCK:測(cè)試時(shí)鐘（獨(dú)立于lC主時(shí)鐘），又稱為掃描時(shí)鐘引腳；
●TMS:測(cè)試模式選擇；
●TDI:數(shù)字串行移入端；
●TDO:數(shù)字串行移出端；
●TRST:復(fù)位端。
這5個(gè)引腳構(gòu)成5個(gè)測(cè)試點(diǎn)，利用5個(gè)引腳就可以進(jìn)行整個(gè)邊界掃描，器件引腳的開(kāi)路／短路能方便地測(cè)試出，同時(shí)也實(shí)現(xiàn)了器件本身內(nèi)部功能邏輯測(cè)試。
測(cè)試時(shí)只要向BS器件發(fā)送自測(cè)試的啟動(dòng)命令和最后接收到的go/no go報(bào)告，以及有關(guān)內(nèi)部診斷信息就可以方便地知道BS器件的芯片質(zhì)量和焊接效果。有時(shí)當(dāng)帶有BS器件與非邊界掃描器件混裝酌組件板也可以用周邊BS器件的I/O引腳作為自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(AutomatedTest Equipment，ATE)的虛擬通道來(lái)檢測(cè)與之相關(guān)的非邊界掃描器件�？傊�，BS器件的問(wèn)世既提高了器件本身的可測(cè)試性，又降低了對(duì)IC-ATE的要求。
邊界掃描技術(shù)以其虛擬的接觸解決了高密度、細(xì)間距引腳難以測(cè)試的問(wèn)題，復(fù)雜的VLSI、ASIC器件引腳故障測(cè)試也變得簡(jiǎn)單易行，它可以完全不考慮器件的內(nèi)部邏輯。盡管邊界掃描單元增加了器件的費(fèi)用，但由于器件的可測(cè)性提高，使用合格率大大提高，受到用戶的歡迎。與此同時(shí)，相應(yīng)的ATE無(wú)論是IC-ATE還是PCB-ATE都具備了檢測(cè)BS器件相應(yīng)的軟硬件能力。世界上著名的測(cè)試儀制造廠商，如HP公司、GerRad公司和Teradyne公司推出的ICT均帶有能測(cè)試多種BS器件功能，如Teradyne公司產(chǎn)品21800系列Spectrum8800系列測(cè)試儀所配備的BS測(cè)試軟件VICTORY是較早完成并用于實(shí)際的系統(tǒng)。
帶有邊界掃描功UC1875LP883WIP能的器件，在使用時(shí)通常IC外部只要增加5個(gè)引腳，即
●TCK:測(cè)試時(shí)鐘（獨(dú)立于lC主時(shí)鐘），又稱為掃描時(shí)鐘引腳；
●TMS:測(cè)試模式選擇；
●TDI:數(shù)字串行移入端；
●TDO:數(shù)字串行移出端；
●TRST:復(fù)位端。
這5個(gè)引腳構(gòu)成5個(gè)測(cè)試點(diǎn)，利用5個(gè)引腳就可以進(jìn)行整個(gè)邊界掃描，器件引腳的開(kāi)路／短路能方便地測(cè)試出，同時(shí)也實(shí)現(xiàn)了器件本身內(nèi)部功能邏輯測(cè)試。
測(cè)試時(shí)只要向BS器件發(fā)送自測(cè)試的啟動(dòng)命令和最后接收到的go/no go報(bào)告，以及有關(guān)內(nèi)部診斷信息就可以方便地知道BS器件的芯片質(zhì)量和焊接效果。有時(shí)當(dāng)帶有BS器件與非邊界掃描器件混裝酌組件板也可以用周邊BS器件的I/O引腳作為自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(AutomatedTest Equipment，ATE)的虛擬通道來(lái)檢測(cè)與之相關(guān)的非邊界掃描器件。總之，BS器件的問(wèn)世既提高了器件本身的可測(cè)試性，又降低了對(duì)IC-ATE的要求。
邊界掃描技術(shù)以其虛擬的接觸解決了高密度、細(xì)間距引腳難以測(cè)試的問(wèn)題，復(fù)雜的VLSI、ASIC器件引腳故障測(cè)試也變得簡(jiǎn)單易行，它可以完全不考慮器件的內(nèi)部邏輯。盡管邊界掃描單元增加了器件的費(fèi)用，但由于器件的可測(cè)性提高，使用合格率大大提高，受到用戶的歡迎。與此同時(shí)，相應(yīng)的ATE無(wú)論是IC-ATE還是PCB-ATE都具備了檢測(cè)BS器件相應(yīng)的軟硬件能力。世界上著名的測(cè)試儀制造廠商，如HP公司、GerRad公司和Teradyne公司推出的ICT均帶有能測(cè)試多種BS器件功能，如Teradyne公司產(chǎn)品21800系列Spectrum8800系列測(cè)試儀所配備的BS測(cè)試軟件VICTORY是較早完成并用于實(shí)際的系統(tǒng)。
●TCK:測(cè)試時(shí)鐘（獨(dú)立于lC主時(shí)鐘），又稱為掃描時(shí)鐘引腳；
●TMS:測(cè)試模式選擇；
●TDI:數(shù)字串行移入端；
●TDO:數(shù)字串行移出端；
●TRST:復(fù)位端。
這5個(gè)引腳構(gòu)成5個(gè)測(cè)試點(diǎn)，利用5個(gè)引腳就可以進(jìn)行整個(gè)邊界掃描，器件引腳的開(kāi)路／短路能方便地測(cè)試出，同時(shí)也實(shí)現(xiàn)了器件本身內(nèi)部功能邏輯測(cè)試。
測(cè)試時(shí)只要向BS器件發(fā)送自測(cè)試的啟動(dòng)命令和最后接收到的go/no go報(bào)告，以及有關(guān)內(nèi)部診斷信息就可以方便地知道BS器件的芯片質(zhì)量和焊接效果。有時(shí)當(dāng)帶有BS器件與非邊界掃描器件混裝酌組件板也可以用周邊BS器件的I/O引腳作為自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(AutomatedTest Equipment，ATE)的虛擬通道來(lái)檢測(cè)與之相關(guān)的非邊界掃描器件。總之，BS器件的問(wèn)世既提高了器件本身的可測(cè)試性，又降低了對(duì)IC-ATE的要求。
邊界掃描技術(shù)以其虛擬的接觸解決了高密度、細(xì)間距引腳難以測(cè)試的問(wèn)題，復(fù)雜的VLSI、ASIC器件引腳故障測(cè)試也變得簡(jiǎn)單易行，它可以完全不考慮器件的內(nèi)部邏輯。盡管邊界掃描單元增加了器件的費(fèi)用，但由于器件的可測(cè)性提高，使用合格率大大提高，受到用戶的歡迎。與此同時(shí)，相應(yīng)的ATE無(wú)論是IC-ATE還是PCB-ATE都具備了檢測(cè)BS器件相應(yīng)的軟硬件能力。世界上著名的測(cè)試儀制造廠商，如HP公司、GerRad公司和Teradyne公司推出的ICT均帶有能測(cè)試多種BS器件功能，如Teradyne公司產(chǎn)品21800系列Spectrum8800系列測(cè)試儀所配備的BS測(cè)試軟件VICTORY是較早完成并用于實(shí)際的系統(tǒng)。
上一篇：向量法測(cè)試技術(shù)
上一篇：非向量測(cè)試技術(shù)
相關(guān)技術(shù)資料- 10-13帶有邊界掃描功能的器件
熱門點(diǎn)擊
- PCB焊盤孔徑及其與插針直徑相配匹
- 運(yùn)算放大器組成萬(wàn)用表設(shè)計(jì)與調(diào)試
- LED數(shù)碼顯示實(shí)驗(yàn)（綜合性實(shí)驗(yàn)）
- 翼形引腳與L形引腳
- 四面引腳貼片集成電路焊接
- 焊錫膏印刷機(jī)理與影響印刷質(zhì)量的因素
- 觀察相頻特性
- 焊錫絲
- 水清洗工藝流程
- 無(wú)鉛錫膏的焊接缺陷
推薦技術(shù)資料
- 中國(guó)傳媒大學(xué)傳媒博物館開(kāi)
- 傳媒博物館開(kāi)館儀式隆童舉行。教育都i國(guó)家廣電總局等部門... [詳細(xì)]
- AMOLED顯示驅(qū)動(dòng)芯片關(guān)鍵技
- CMOS圖像傳感器技術(shù)參數(shù)設(shè)計(jì)
- GB300 超級(jí)芯片應(yīng)用需求分
- 4NP 工藝NVIDIA Bl
- GB300 芯片、NVL72
- 首個(gè)最新高端芯片人工智能服務(wù)器
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究
公網(wǎng)安備44030402000607
