Wave Scan也是一種用于非矢AT697-DKIT量測(cè)試的新技術(shù)，它把頻率為0.3～1MHz、幅度大約是1/3V的射頻信號(hào)加到螺線形的回路中激發(fā)磁場(chǎng)，這個(gè)磁場(chǎng)感應(yīng)器放在器件的上方。于是被測(cè)器件中產(chǎn)生交流電壓，再用測(cè)試儀內(nèi)的儀器把它測(cè)量出來(lái)�，F(xiàn)在有4種不同尺寸的磁場(chǎng)感應(yīng)器可用于測(cè)試不同封裝和類(lèi)型的器件。
    在磁場(chǎng)感應(yīng)器固定裝置上裝有一塊多路解編器，在進(jìn)行一個(gè)項(xiàng)目的測(cè)試時(shí)確定一個(gè)感應(yīng)器激發(fā)磁場(chǎng)。Wave Scan能測(cè)試器件多達(dá)每塊板255個(gè)。
    在測(cè)試儀上還裝有一塊發(fā)射接收電路板，板上有射頻號(hào)發(fā)射器和接收器，它接到多路解編器電路板，在測(cè)試固定裝置中設(shè)有緩沖器和放大器，如圖15.88所示。

            
    在測(cè)試儀軟件的控制下，Wave Scan的工作過(guò)程為：多路解碼器選擇磁場(chǎng)感應(yīng)器準(zhǔn)備激磁；在器件的被測(cè)試引出線和器件的地線（或者Ve。）之間送進(jìn)直流偏置電流，使該引出線的保護(hù)二板管進(jìn)入導(dǎo)通狀態(tài)。發(fā)射接收電路板把射頻信號(hào)（頻率為0.3MHz或者1MHz）送到選定的磁場(chǎng)感應(yīng)器；磁場(chǎng)感應(yīng)器激發(fā)磁場(chǎng)，在被測(cè)試器件中感應(yīng)微小的交流電壓；發(fā)射接收電路板依次測(cè)量器件上每條引出線的交流電壓。
    如果器件中的電路是閉合的，那么測(cè)試儀就把疊加在直流偏置電壓上的交流電壓測(cè)量出來(lái)。如果在器件和測(cè)試探針之間存在開(kāi)路，那么就沒(méi)有交流信號(hào)，這樣，如果電路中有斷路現(xiàn)象便可檢查出來(lái)。
    Wave Scan的特點(diǎn)為：
    ●能測(cè)試有散熱封裝、有接地的器件，因?yàn)閃ave有很強(qiáng)的穿透性；
    ●能測(cè)試沒(méi)有引腳支架的器件，如BGA、PGA等；
    ●能查出器件的接地線與信號(hào)線是否接錯(cuò)或開(kāi)路；
    ●編程速度快；
    ●運(yùn)行可靠（因力IC上磁場(chǎng)分布比較均勻），信噪比高(100:1)。
    但Wave Scan不能檢查出編程有錯(cuò)誤的器件以及器件內(nèi)部的故障。
    上述三種非向量測(cè)試方法在實(shí)際應(yīng)用時(shí)可作為互補(bǔ)，即對(duì)于一個(gè)具體的ASIC器件來(lái)說(shuō)，總可以采用其中一個(gè)方法測(cè)試是否合格，通常Delta Scan法可以用于首選，它具有相當(dāng)高的故障覆蓋率，并用于不同種的器件，此外附加硬件相對(duì)較少。然后再采用WaveScan進(jìn)一步對(duì)尚不明確的器件進(jìn)行測(cè)試，而對(duì)于非硅器件則可以采用Frame Scan方法進(jìn)行測(cè)試。
    總之，對(duì)于lC器件的測(cè)試，非向量測(cè)試技術(shù)有較高的缺陷診斷覆蓋率，但非向量測(cè)試技術(shù)不能測(cè)量器件內(nèi)部功能，也不能識(shí)別編程的錯(cuò)誤，它與ICT結(jié)合在一起能實(shí)現(xiàn)對(duì)SMA焊接質(zhì)量的全面測(cè)試。