NI ELVIS實(shí)驗(yàn)套件上為用戶提供了進(jìn)行電子元件阻抗特性測量的功能，HEB20534H-10V2.1進(jìn)行阻抗測量的模塊位于NI ELVIS的左下角，其功能引腳名稱如圖2-45中的BASE、DUT+、DUT-所示。

   和前面的虛擬儀器DMM -樣，為了能夠通過NI ELVIS來測量電路元件的阻抗特性，在主計(jì)算機(jī)中NI為用戶提供了名為Imped的虛擬阻抗分析儀，在圖2-4中單擊Imped圖標(biāo)按鈕，結(jié)果如圖2-46所示。

   圖2-46中，左側(cè)的區(qū)域是測量結(jié)果顯示的部分，其中以幅度／相位、電阻／電抗的形式顯示出了測量結(jié)果，圖2-46中右側(cè)是阻抗分析儀的參數(shù)設(shè)置區(qū)域，具體含義如下。

   (1)  Measurement Frequency區(qū)用于設(shè)置輸入交流信號的頻率，因?yàn)殡娙莺碗姼械仍?/span>阻抗數(shù)值會隨著頻率的變化而變化。

   (2) Graph Settings醫(yī)用于設(shè)置測量結(jié)果的顯示方式和顯示模式。

   ①Visible Section：用于設(shè)置測量結(jié)果的可顯示部分，可以突出測量參數(shù)所在區(qū)域。

   ②Mapping：用來設(shè)置以線性或者對數(shù)的方式來顯示測量結(jié)果。

   (3) Instrument Control區(qū)用來設(shè)置主計(jì)算機(jī)所接外設(shè)的邏輯設(shè)備號，在本書中，所接外設(shè)的邏輯設(shè)備號一直是Dev2。