利用物理變換的光電檢測方法是指將光學現(xiàn)象視為電磁波振蕩傳輸?shù)慕Y果。在物D0941DA理光學的意義上，利用光的干涉、衍射、散斑、全息、光譜、能量、波長和頻率等光學變換的現(xiàn)象與參量進行光電檢測，主要包括光度、色度、光柵和干涉量、衍射和散斑測量、光譜分析等方面。因此，相對應的常見結構形式有以下兩種。

   如圖1.10所示，由光源1發(fā)出的光線經(jīng)過透鏡2照射到分束器3（可以是半透明半反射的平面鏡或棱鏡）上，經(jīng)分光面把光線分成兩路，一路光線a射向平面反射鏡4作為參考光，另一路光線b射向待測物5，從待測物中得到待測信息。例如，圖1.10 (a)中的待測信息可以是位移或振動等；圖1.10 (b)中的待測信息可以是待測物折射率的變化，即濃度或成分變化的信息。光線a和b經(jīng)過4和5后又一起射向光電探測器6，在光電探測器上可檢測到干涉條紋信號.

   因此，干涉法可用于檢測位移、振動、液體的濃度、折射率等，它的檢測靈敏度和精度很高，動態(tài)范圍大，但結構和檢測電路復雜，成本也很高。