用觸針式輪廓儀和同軸式高分辨率激光干涉輪廓儀
發(fā)布時間:2016/2/17 21:05:48 訪問次數(shù):732
用觸針式輪廓儀和同軸式高分辨率激光干涉輪廓儀,在相同的掃描速度下測量前述的標(biāo)準(zhǔn)校對樣塊。 AAT3515IGV-4.38-C-T1測量結(jié)果如圖11.19所示,其中11.19 (a)所示是激光輪廓儀所測結(jié)果,11.19 (b)所示是Taly-6觸針式輪廓儀所測結(jié)果,很明顯,激光輪廓儀的測量形狀誤差更小,且測量結(jié)果細節(jié)更清楚。
圖11.19激光干涉輪廓儀與Taly-6觸針式輪廓儀的測試結(jié)果比較
本測量系統(tǒng)也可通過掃描方式形成三維地形圖,圖11.20所示為本系統(tǒng)的三維測量圖。圖11.21所示為本輪廓儀采用軟件濾波后的測量結(jié)果,軟件濾波后橫向分辨率會降低。
圖11.20三維測量圖
用觸針式輪廓儀和同軸式高分辨率激光干涉輪廓儀,在相同的掃描速度下測量前述的標(biāo)準(zhǔn)校對樣塊。 AAT3515IGV-4.38-C-T1測量結(jié)果如圖11.19所示,其中11.19 (a)所示是激光輪廓儀所測結(jié)果,11.19 (b)所示是Taly-6觸針式輪廓儀所測結(jié)果,很明顯,激光輪廓儀的測量形狀誤差更小,且測量結(jié)果細節(jié)更清楚。
圖11.19激光干涉輪廓儀與Taly-6觸針式輪廓儀的測試結(jié)果比較
本測量系統(tǒng)也可通過掃描方式形成三維地形圖,圖11.20所示為本系統(tǒng)的三維測量圖。圖11.21所示為本輪廓儀采用軟件濾波后的測量結(jié)果,軟件濾波后橫向分辨率會降低。
圖11.20三維測量圖
上一篇:橫向分辨率測試
熱門點擊
- 硅光電池的光電變換電路
- 零差檢測和超外差檢測
- 光照零偏PN結(jié)產(chǎn)生開路電壓的效應(yīng)
- 光敏電阻的偏置電路
- 引起過電壓跳閘的主要原因
- 調(diào)制檢測光信號有何優(yōu)點
- 光電檢測系統(tǒng)的基本工作原理
- 光照PN時電流方程
- 門電路鑒相
- 真空光電管的工作原理
推薦技術(shù)資料
- 650V雙向GaNFast氮化鎵功率芯片
- 業(yè)內(nèi)領(lǐng)先8英寸硅基氮化鎵技術(shù)工
- 新一代600V超級接面MOSFET KP38
- KEC 第三代SuperJunction M
- KEC半導(dǎo)體650V碳化硅(SiC)肖特基二
- Arrow Lake U 系列
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究