為了對(duì)電子產(chǎn)品或系統(tǒng)的可靠性進(jìn)行分析研究,必須研DAC7512 究構(gòu)成電子產(chǎn)品或系統(tǒng)的元器件的可靠性。

   元器件的可靠性通常用經(jīng)過(guò)大量試驗(yàn)而統(tǒng)計(jì)出來(lái)的失效率來(lái)表征。實(shí)踐發(fā)現(xiàn),普通元器件和半導(dǎo)體元器件的失效規(guī)律有相同之處,但也不完全相同。了解元器件失效規(guī)律,對(duì)于正確使用元器件,從而提高產(chǎn)品可靠性是很有益的。

   普通元器件的失效規(guī)律

   電阻器、電容器、繼電器等普通元器件,在大量使用后,發(fā)壩‘它們有相似的失效規(guī)律,如圖12,1所示為典型普通元器件的失效率與工作時(shí)問(wèn)的關(guān)系。這條關(guān)系曲線就是通常所說(shuō)的 船形或浴盆曲線。

   早期失效期:由于設(shè)計(jì)、制造上的缺陷等原因,剛剛生產(chǎn)的產(chǎn)品在投入使用的前一段時(shí)問(wèn)內(nèi),失效率比較高,這種失效稱為早期失效,對(duì)應(yīng)的這段時(shí)間叫早期失效期。通過(guò)對(duì)原材料和生產(chǎn)工藝加強(qiáng)檢驗(yàn)和質(zhì)量控制,可以大大減少早期失效比例。在生產(chǎn)中對(duì)元器件進(jìn)行篩選老化,可 使其早期失效大大降低,以保證篩選后的元器件有較低的失效率。偶然失效期:產(chǎn)品因偶然因素發(fā)生的失效叫偶然失效。產(chǎn)品在經(jīng)過(guò)早期失效期后,元器件將進(jìn)入正常使用階段,其失效率會(huì)顯著地迅速降低,這個(gè)階段失效主要表現(xiàn)為偶然失效的時(shí)期叫偶然失效期,也稱隨機(jī)失效期。其特點(diǎn)是失效率低而基本穩(wěn)定,可以認(rèn)為失效率是一個(gè)常數(shù),與時(shí)問(wèn)無(wú)關(guān)。偶然失效期時(shí)問(wèn)較長(zhǎng),是元器件的使用壽命期。正規(guī)化的生產(chǎn)廠商都要采用各種試驗(yàn)手段,把元器件的早期失效消滅在產(chǎn)品出廠之前,并把它們?cè)谡Ｊ褂秒A段

的失效率作為向用戶提供的一項(xiàng)主要指標(biāo)。