裝配工作只是把成百上千的元器件,按照設(shè)計的要求連接起來,而每個元器件的特性參數(shù)都不可避免地存在著微小的差異,其綜合果會使電路的各種性能出現(xiàn)較大的偏差,加之OPA544T在裝配過程中產(chǎn)生的各種分布參數(shù)的影響,故在整機(jī)電路剛組裝完成,其各項技術(shù)指標(biāo)一般

不可能達(dá)到設(shè)計要求,必須i蓬過調(diào)試才能達(dá)到規(guī)定的技術(shù)要求。

  調(diào)試工作的內(nèi)容

   調(diào)試工作包括測試和調(diào)整兩部分內(nèi)容�？梢愿爬�,通過測試,以確定產(chǎn)品是否合格,對不合格產(chǎn)品,通過調(diào)整,使其技術(shù)指標(biāo)達(dá)到要求。

   (1)測試:主要是對電路的各項技術(shù)指標(biāo)和功能進(jìn)行測景與試驗,并同設(shè)計的性能指標(biāo)進(jìn)行比較,以確定電路是否合格c它是電路調(diào)整的依據(jù),又是檢驗結(jié)論的判據(jù)。

   (2)調(diào)整:主要是對電路參數(shù)的調(diào)整:一般是對電路中可調(diào)元器件(如可調(diào)電阻、可調(diào)電容、可調(diào)電感等)以及機(jī)械部分進(jìn)行調(diào)瞥使電路達(dá)到預(yù)定的功能和性能要求。電子產(chǎn)品的調(diào)試工作主要包含兩個階段的工作:產(chǎn)品研制階段的調(diào)試工作和產(chǎn)品批量生產(chǎn)階段的調(diào)試工作。產(chǎn)品研制階段的調(diào)試除了對電路設(shè)計方案進(jìn)行試驗和調(diào)整以外,還要對后面的生產(chǎn)階段的調(diào)試提供確切的調(diào)試數(shù)據(jù)和工藝要求,根據(jù)產(chǎn)品研制階段的調(diào)試步驟、工藝方法、調(diào)試過程,找出重點和難點,才能制訂出合理、科學(xué)、優(yōu)質(zhì)、高效的調(diào)試工藝方案,才有利于產(chǎn)品批量生產(chǎn)階段的調(diào)試工作。

   產(chǎn)品研制階段的調(diào)試由于參考數(shù)據(jù)少,甚至沒有可以參考的數(shù)據(jù),只有一些理論上的分析數(shù)據(jù),產(chǎn)晶電路還不成熟。因此,需要調(diào)整的元件較多,調(diào)試工作量較大,并且調(diào)試工作具有一定的摸索性。在調(diào)試過程中還要逐步確定哪些元件需要更改參數(shù),哪些元件需要用可調(diào)元件(如電位器、可調(diào)電容等)來代替,并且還要確定調(diào)試步驟、調(diào)試方法、調(diào)試點和使用的儀器等,這些都是在產(chǎn)品研制階段需要做的調(diào)試工作。

在產(chǎn)品批量生產(chǎn)階段,由于有了研制階段的調(diào)試工作基礎(chǔ),調(diào)試工藝己經(jīng)基本成熟,囚

此,這個階段的調(diào)試主要考慮調(diào)試效率,調(diào)試步驟和調(diào)試點、調(diào)試參數(shù)越少越好。生產(chǎn)階段

的調(diào)試質(zhì)量和效率取決于調(diào)試操作人員對調(diào)試工藝的掌握熟練程度和調(diào)試工藝過程是否制訂

合理。