應(yīng)采用蒸氣壓低且擴(kuò)散速率也低的雜質(zhì)作為埋層雜質(zhì)
發(fā)布時間:2017/5/9 22:05:37 訪問次數(shù):606
由于雜質(zhì)再分布現(xiàn)象使得氣相外延工藝難以獲得理想陡變的雜質(zhì)分布外延層,限制了LD2981ABU50TR該工藝在薄外延層生長方面的應(yīng)用。因此,減小進(jìn)而消除雜質(zhì)再分布現(xiàn)象一直是氣相外延工藝的一個重要研究內(nèi)容。日前,可以采取以下措施來減小雜質(zhì)再分布效應(yīng)的影響。
①在保證外延質(zhì)量和速度的前提下,盡量降低氣相外延生長溫度。但是,對于雜質(zhì)砷來說效果不顯著,因為砷的自摻雜程度隨著外延溫度的降低而增強(qiáng)。
②對于n型襯底,如果在外延之前需要進(jìn)行埋層摻雜,應(yīng)采用蒸氣壓低且擴(kuò)散速率也低的雜質(zhì)作為埋層雜質(zhì),如通常使用銻作為埋層摻雜,而不使用蒸氣壓高的砷和擴(kuò)散速率較高的磷。
③對于重?fù)诫s的襯底,可以使用輕摻雜的硅薄層來密封重?fù)诫s襯底的底面和側(cè)面,進(jìn)而減少雜質(zhì)的外逸,使自摻雜程度降低。
④進(jìn)行低壓外延,這對抑制自摻雜效應(yīng)有利。在低壓下襯底表面的邊界層變薄,襯底外逸的大部分雜質(zhì)就可以 很快擴(kuò)散穿越邊界層進(jìn)人主氣流區(qū),被主流氣體帶離反應(yīng)器,這種方法對砷和磷的抑制效果顯著,而對硼的作用不明顯。
由于雜質(zhì)再分布現(xiàn)象使得氣相外延工藝難以獲得理想陡變的雜質(zhì)分布外延層,限制了LD2981ABU50TR該工藝在薄外延層生長方面的應(yīng)用。因此,減小進(jìn)而消除雜質(zhì)再分布現(xiàn)象一直是氣相外延工藝的一個重要研究內(nèi)容。日前,可以采取以下措施來減小雜質(zhì)再分布效應(yīng)的影響。
①在保證外延質(zhì)量和速度的前提下,盡量降低氣相外延生長溫度。但是,對于雜質(zhì)砷來說效果不顯著,因為砷的自摻雜程度隨著外延溫度的降低而增強(qiáng)。
②對于n型襯底,如果在外延之前需要進(jìn)行埋層摻雜,應(yīng)采用蒸氣壓低且擴(kuò)散速率也低的雜質(zhì)作為埋層雜質(zhì),如通常使用銻作為埋層摻雜,而不使用蒸氣壓高的砷和擴(kuò)散速率較高的磷。
③對于重?fù)诫s的襯底,可以使用輕摻雜的硅薄層來密封重?fù)诫s襯底的底面和側(cè)面,進(jìn)而減少雜質(zhì)的外逸,使自摻雜程度降低。
④進(jìn)行低壓外延,這對抑制自摻雜效應(yīng)有利。在低壓下襯底表面的邊界層變薄,襯底外逸的大部分雜質(zhì)就可以 很快擴(kuò)散穿越邊界層進(jìn)人主氣流區(qū),被主流氣體帶離反應(yīng)器,這種方法對砷和磷的抑制效果顯著,而對硼的作用不明顯。
上一篇:外延設(shè)備
熱門點擊
- 溫度對氧化速率的影響
- 橫向擴(kuò)散效應(yīng)
- 硅晶胞
- 硅是金剛石結(jié)構(gòu)晶胞
- 彈道導(dǎo)彈紅外特性
- 像旋的產(chǎn)生
- 雜質(zhì)在二氧化硅和硅中的擴(kuò)散速率不同
- 單線列探測器和TDI探測器對比
- 噪聲等效功率
- 水汽氧化法
推薦技術(shù)資料
- 硬盤式MP3播放器終級改
- 一次偶然的機(jī)會我結(jié)識了NE0 2511,那是一個遠(yuǎn)方的... [詳細(xì)]
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開
- URF1DxxM-60WR3系
- 1-6W URA24xxN-x
- 閉環(huán)磁通門信號調(diào)節(jié)芯片NSDRV401
- SK-RiSC-SOM-H27X-V1.1應(yīng)
- RISC技術(shù)8位微控制器參數(shù)設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究