基本光刻工藝流程
發(fā)布時(shí)間:2017/5/24 21:21:27 訪問(wèn)次數(shù):12510
把圖像從掩模板上轉(zhuǎn)移到襯底表面需要有多個(gè)步驟來(lái)才能完成(如圖95所示是光刻工藝基本流程)。 HAT2038RJ-EL-E特征圖形尺寸、對(duì)準(zhǔn)容忍度、襯底表面情況和光刻層數(shù)都會(huì)影響到特定光刻下藝的難易程度和每一步驟的工藝。
一般的光刻工藝要經(jīng)歷底膜處理、涂膠、前烘、曝光、顯影、堅(jiān)膜、顯影檢驗(yàn)、刻蝕、去膠、最終檢驗(yàn)工序。下面依次介紹光刻工藝中各個(gè)步驟的簡(jiǎn)要過(guò)程,而圖95中后面的刻蝕等I序?qū)⒃诘?1章刻蝕技術(shù)中介紹。
底膜處理
硅片制造過(guò)程中許多問(wèn)題都是由于表面污染和缺陷造成的,因此硅片表面的處理對(duì)于集成電路制造成品率非常重要。底膜處理是光刻工藝的第一步,其主要目的是對(duì)硅襯底表面進(jìn)行處理,以增強(qiáng)襯底與光刻膠之間的黏附性。底膜處理包括以下過(guò)程。
把圖像從掩模板上轉(zhuǎn)移到襯底表面需要有多個(gè)步驟來(lái)才能完成(如圖95所示是光刻工藝基本流程)。 HAT2038RJ-EL-E特征圖形尺寸、對(duì)準(zhǔn)容忍度、襯底表面情況和光刻層數(shù)都會(huì)影響到特定光刻下藝的難易程度和每一步驟的工藝。
一般的光刻工藝要經(jīng)歷底膜處理、涂膠、前烘、曝光、顯影、堅(jiān)膜、顯影檢驗(yàn)、刻蝕、去膠、最終檢驗(yàn)工序。下面依次介紹光刻工藝中各個(gè)步驟的簡(jiǎn)要過(guò)程,而圖95中后面的刻蝕等I序?qū)⒃诘?1章刻蝕技術(shù)中介紹。
底膜處理
硅片制造過(guò)程中許多問(wèn)題都是由于表面污染和缺陷造成的,因此硅片表面的處理對(duì)于集成電路制造成品率非常重要。底膜處理是光刻工藝的第一步,其主要目的是對(duì)硅襯底表面進(jìn)行處理,以增強(qiáng)襯底與光刻膠之間的黏附性。底膜處理包括以下過(guò)程。
上一篇:對(duì)比度(CON)
上一篇:液體在同體表面上的接觸角
熱門(mén)點(diǎn)擊
- 基本光刻工藝流程
- 用萬(wàn)用表檢測(cè)繼電器常開(kāi)、常閉觸點(diǎn)的方法
- 摻雜濃度及雜質(zhì)類(lèi)型對(duì)氧化速率的影響
- Ⅴ族施主雜質(zhì)在硅中的電離能很小
- 填隙式擴(kuò)散
- 風(fēng)云三號(hào)(FY-3)衛(wèi)星
- 刻蝕均勻性
- LPCVD氮化硅薄膜在KOH水溶液中的腐蝕速
- 掩模板的基本構(gòu)造及質(zhì)量要求
- APCVD工藝主要用于二氧化硅薄膜的制備
推薦技術(shù)資料
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開(kāi)
- URF1DxxM-60WR3系
- 1-6W URA24xxN-x
- 閉環(huán)磁通門(mén)信號(hào)調(diào)節(jié)芯片NSDRV401
- SK-RiSC-SOM-H27X-V1.1應(yīng)
- RISC技術(shù)8位微控制器參數(shù)設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究