CMOS電路中的短路情況,可能會造成某一狀態(tài)下到地的一條通路,例如,圖14-15(a)中的飛管短路,當(dāng)輸人向量為01時,Tl、T.、飛就構(gòu)成了Ⅵx)至地的通路, VEJ221M1VTT-1010LBY此時電源電流將突然增大。針對這樣的情況,rDDQ測試將非常有效。

    CMOS電路中的交叉錯誤同樣會引起失效,并且不能以固定錯誤模型加以描述,尤其是對復(fù)雜的CNI(B結(jié)構(gòu)。由此可見,由于CMOS電路特殊的二元性,單純p管或n管部分的失效,給電路測試帶來更多的困難。實際證明,對CMOS集成電路的測試,最有效的方法是功能測試結(jié)合馬Jlu測試。

   另外,數(shù)字集成電路中還存在一些偶發(fā)性錯誤,可分為以下兩類。

   ①傳輸錯誤:射線、電源電壓波動等造成的數(shù)據(jù)錯誤。

   ②間歇性錯誤:電路中的某些不當(dāng)造成隨機出現(xiàn)的錯誤。  

   在產(chǎn)生測試圖形時充分考慮以上的問題,以最大限度地覆蓋可能存在的失效。