模擬電路測試

   純模擬電路通常規(guī)模比較小,在電路元件比較多時可能達到M⒏/′LSI。與數(shù)字VEJ470M1VTR-0605電路測試不同,模擬電路測試的難點不是數(shù)據(jù)量大,而是電路的復雜性。即使是一個最簡單的運算放大器,也需要進行2O~30種互不相關的不同內容的測試。每一種電路的測試內容和要求都幾乎是完全不同的,比如運算放大器與調頻電路間就沒有什么共性可言。以運放為例,需要測試的參數(shù)包括輸人失調電壓、輸人失調F包流、共模抑制比、電源電壓抑制比、正增益、負增益等。

    在模擬電路的原型測試階段,需要進行I藝參數(shù)和電路參數(shù)兩個方面的測試,并且在其成品測試中,也需要保證相應的工藝參數(shù)穩(wěn)定不變,囚為表面狀況、光刻版套準精度等的偏差都會引起模擬電路性能下降。

   模擬電路失效類型

   模擬電路的失效類型大致可以概括為以下幾類:

   ①參數(shù)值偏離正常值;

   ②參數(shù)值嚴重偏離正常范圍,如開路、短路、擊穿等;     ・

   ③一種失效引發(fā)其他的參數(shù)錯誤;