不僅如此,再仔細(xì)分析一下圖276所示的情況,金屬屏蔽外殼的增加,還使開關(guān)電源內(nèi)部電路噪聲的耦合關(guān)系發(fā)生了什么變化。以開關(guān)電源PCB中開關(guān)信號所在點(高dI//dr)與開關(guān)電源輸入電源線之間的耦合關(guān)系為例,在無金屬屏蔽外殼時,其間耦合關(guān)系原理如圖2。刀所示, EDD10161BBH-6ETS-F在這種情況下,只要PCB布局布線合理,圖2.刀中開關(guān)電源PCB中開關(guān)信號所在點與開關(guān)電源輸人電源線之間的寄生電容C出,Cψ均比較小(一般在零點幾皮法);而當(dāng)存在金屬外殼時,由于金屬板的存在,使開關(guān)電源PCB中開關(guān)信號所在點(高dIr/dr)與開關(guān)電源輸入電源線之間的寄生電容等于圖2.78中開關(guān)電源PCB中開關(guān)信號所在點(高dydf)與金屬外殼之間的寄生電容C′⒌與開關(guān)電源輸入電源線之間的與金屬外殼之間的寄生電容C′叼的串聯(lián)。由于開關(guān)電源PCB中開關(guān)信號所在點(高d〃/d莎)與開關(guān)電源輸人電源線到金屬板的距離(幾厘米)要比到參考接地板的距離(1m左右)近很多,使得C′⒏C′s2要遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于CsI、Cs2。即開關(guān)電源PCB中開關(guān)信號所在點(高d〃d苫)與開關(guān)電源輸人電源線之間的耦合大大加重,流入電源輸入線的共模電流大大增加,輻射也大大增加。這就是本案例中出現(xiàn)金屬屏蔽外殼反而導(dǎo)致輻射發(fā)射測試失敗的原因。當(dāng)金屬外殼與PCB中的0Ⅴ相連后,雖然圖2.78所示的寄生電容C′M、C′s2依然存在,但是C′⒌、C′汾互連點上的電位為零,導(dǎo)致來自于C′"共模電流不會繼續(xù)往C′s2流動,從而減小了流向開關(guān)電源輸人電纜 的共模電流,降低輻射發(fā)射。