調(diào)試的目的、內(nèi)容與步驟
發(fā)布時間:2017/9/15 21:24:13 訪問次數(shù):3702
調(diào)試的目的、內(nèi)容與步驟
1.調(diào)試的含義NE5532AN
調(diào)試技術(shù)包括調(diào)整和測試(檢驗)兩部分內(nèi)容。
調(diào)整:主要是對電路參數(shù)的調(diào)整。一般是對電路中可調(diào)元器件進行調(diào)整,使電路達到預(yù)定的功能和性能要求。
測試:主要是對電路的各項技術(shù)指標和功能進行測量和試驗,并同設(shè)計的性能指標進行比較,以確定電路是否合格。
2.調(diào)試的目的
調(diào)試的目的主要有兩個:
(1)發(fā)現(xiàn)設(shè)計的缺陷和安裝的錯誤,并改進與糾正,或提出改進建議。
(2)通過調(diào)整電路參數(shù),避免因元器件參數(shù)或裝配工藝不一致,而造成電路性能的不一致或功能和技術(shù)指標達不到設(shè)計要求的情況發(fā)生,確保產(chǎn)品的各項功能和性能指標均達到設(shè)計要求。
調(diào)試的目的、內(nèi)容與步驟
1.調(diào)試的含義NE5532AN
調(diào)試技術(shù)包括調(diào)整和測試(檢驗)兩部分內(nèi)容。
調(diào)整:主要是對電路參數(shù)的調(diào)整。一般是對電路中可調(diào)元器件進行調(diào)整,使電路達到預(yù)定的功能和性能要求。
測試:主要是對電路的各項技術(shù)指標和功能進行測量和試驗,并同設(shè)計的性能指標進行比較,以確定電路是否合格。
2.調(diào)試的目的
調(diào)試的目的主要有兩個:
(1)發(fā)現(xiàn)設(shè)計的缺陷和安裝的錯誤,并改進與糾正,或提出改進建議。
(2)通過調(diào)整電路參數(shù),避免因元器件參數(shù)或裝配工藝不一致,而造成電路性能的不一致或功能和技術(shù)指標達不到設(shè)計要求的情況發(fā)生,確保產(chǎn)品的各項功能和性能指標均達到設(shè)計要求。
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