調(diào)試的目的、內(nèi)容與步驟

   1.調(diào)試的含義NE5532AN

   調(diào)試技術(shù)包括調(diào)整和測(cè)試(檢驗(yàn))兩部分內(nèi)容。

   調(diào)整:主要是對(duì)電路參數(shù)的調(diào)整。一般是對(duì)電路中可調(diào)元器件進(jìn)行調(diào)整,使電路達(dá)到預(yù)定的功能和性能要求。

   測(cè)試:主要是對(duì)電路的各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)和功能進(jìn)行測(cè)量和試驗(yàn),并同設(shè)計(jì)的性能指標(biāo)進(jìn)行比較,以確定電路是否合格。

   2.調(diào)試的目的

   調(diào)試的目的主要有兩個(gè):

   (1)發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)的缺陷和安裝的錯(cuò)誤,并改進(jìn)與糾正,或提出改進(jìn)建議。

    (2)通過(guò)調(diào)整電路參數(shù),避免因元器件參數(shù)或裝配工藝不一致,而造成電路性能的不一致或功能和技術(shù)指標(biāo)達(dá)不到設(shè)計(jì)要求的情況發(fā)生,確保產(chǎn)品的各項(xiàng)功能和性能指標(biāo)均達(dá)到設(shè)計(jì)要求。