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學習周期(learnmg qcle)

發(fā)布時間:2017/11/20 19:51:12 訪問次數(shù):799

   學習周期(learnmg qcle)SAF-C515C-8EM

   集成電路的高速發(fā)展,市場激烈的競爭,對于先進制程的良率提升提出了很高的要求。yield的提升,實質上是一個yiCld learning的過程。圖17.18表示學習周期(learningcycle)中的主要環(huán)節(jié)。

yield lcaming的目的就是盡快地把試驗結果中的有效信息反饋到工藝線上,用以丁藝改善。

      

   yield leaming有個方面的要求:

   第一,速度快,leaming cycle短.這要求在learning cycle各個環(huán)節(jié)都盡量縮短時問,并且各環(huán)節(jié)之間有機結合.環(huán)節(jié)間的延遲少。由于wafer流片的時問需求,一般的learningcyclc為數(shù)周。

   第二,數(shù)據(jù)完備,可以全方位檢驗試驗的結果,避免試驗信息的遺漏。

   第三,信息準確,試驗結果的有效信息的提取。

 


   學習周期(learnmg qcle)SAF-C515C-8EM

   集成電路的高速發(fā)展,市場激烈的競爭,對于先進制程的良率提升提出了很高的要求。yield的提升,實質上是一個yiCld learning的過程。圖17.18表示學習周期(learningcycle)中的主要環(huán)節(jié)。

yield lcaming的目的就是盡快地把試驗結果中的有效信息反饋到工藝線上,用以丁藝改善。

      

   yield leaming有個方面的要求:

   第一,速度快,leaming cycle短.這要求在learning cycle各個環(huán)節(jié)都盡量縮短時問,并且各環(huán)節(jié)之間有機結合.環(huán)節(jié)間的延遲少。由于wafer流片的時問需求,一般的learningcyclc為數(shù)周。

   第二,數(shù)據(jù)完備,可以全方位檢驗試驗的結果,避免試驗信息的遺漏。

   第三,信息準確,試驗結果的有效信息的提取。

 


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