像襯度是圖像上不同lx域間明暗程度的差別。由于圖像上不同區(qū)域間存在明暗程度的差別即襯度的存在,才使得我們能觀察到各種具體的圖像。SAF-C515C-8EM在分析TEM圖像時,亮和暗的差別(即襯度,又稱反差)到底與樣品的什么特性有關(guān),這點對解釋圖像非常重要。

   透射電鏡的成像襯度分為質(zhì)厚襯度、衍射襯度和相位襯度,下面分別介紹:

   (1)質(zhì)厚襯度:非品樣品透射電子顯微圖像襯度是由于樣品不同微區(qū)間存在的原子序數(shù)或厚度的差異而形成的,即質(zhì)量厚度襯度(質(zhì)量厚度定義為試樣下表面單位面積以上柱體中的質(zhì)量),也叫質(zhì)厚襯度。質(zhì)量厚度數(shù)值較大的,對電子的吸收散射作用強,使電子散射到光欄以外的較多,對應(yīng)較暗的襯度。質(zhì)量厚度數(shù)值小的,對應(yīng)較亮的襯度。

  (2)衍射襯度:衍射襯度是由晶體滿是布拉格反射條件程度不同而形成的衍射強度差異,這種襯度對晶體結(jié)構(gòu)和取向十分敏感,當(dāng)試樣中某處含有品體缺陷時,意味著該處相對于周圍完整晶體發(fā)生r微小的取向變化,導(dǎo)致缺陷處和周圍完整晶體具有不同的衍射條件,將缺陷顯示出來�？梢�,這種襯度對缺陷也是敏感的。基于這點,衍襯技術(shù)被廣泛應(yīng)用于研究品體缺陷。