冗余設(shè)汁(redundancy),為了提升生產(chǎn)良率,儲存器設(shè)計有冗余單元(rcdundant cclls),nr以替換部分失效的單元。 TDA10023HT/C1當測試程序發(fā)現(xiàn)有失效的單元時,會記錄所有失效的單元地址。在測試結(jié)束時.冗余分析子程序會判斷此芯片是不是可以修復成為無缺陷的芯片。如果。T以修復,修復的地址會被記錄,并輸出給修復設(shè)備。對于缺陷太多而無法完全修復的芯片,即判定為廢品。

   芯片的冗余設(shè)計由冗余單元行/列和地址解碼器組成。激光修復(laser repair,I'/R)機臺會把需要修復的解碼器設(shè)定為被測試到的缺陷地址。例如,假設(shè)缺陷地址是X=511行,就將冗余行地址解碼器設(shè)定成X=511。所以,當外部讀寫輸人地址勹冗余解碼器相同時,芯片就會瀆寫冗余單元的數(shù)據(jù)・而不是主儲存陣列的數(shù)據(jù)。冗余解碼器是由多晶硅或鋁線構(gòu)成的保險絲陣列(poly/al fuse array)組成的.由激光熔斷相對應地址的保險絲組合・完哎解碼設(shè)定:新的保險絲設(shè)計已采用電流保險絲(cfusc),熔斷的方法是利用電遷移效應。