試驗(yàn)應(yīng)力類型的選擇視試驗(yàn)?zāi)康亩?/h1>

發(fā)布時(shí)間:2019/4/18 21:12:06 訪問次數(shù):1660

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   試驗(yàn)應(yīng)力類型的選擇視試驗(yàn)?zāi)康亩�。若要了解產(chǎn)品的儲存壽命或工作壽命就必須施加一定的環(huán)境應(yīng)力或電應(yīng)力。這是因?yàn)楫a(chǎn)品的失效是由失效機(jī)理決定的，同一件產(chǎn)品往往同時(shí)存在著不同的失效機(jī)理，而失效機(jī)理是否發(fā)展和發(fā)展速度快慢，與外加應(yīng)力有密切關(guān)系。對于壽命試驗(yàn)來說，受試產(chǎn)品的失效機(jī)理一定要與實(shí)際使用狀態(tài)的失效機(jī)理相一致；否則，壽命試驗(yàn)所得數(shù)據(jù)沒有實(shí)用價(jià)值。因此，要分析和研究在壽命試驗(yàn)中對失效機(jī)理的發(fā)展有促進(jìn)作用的應(yīng)力類型，也就是要選擇對產(chǎn)品失效影響最顯著或者最敏感的那些應(yīng)力，而且這些應(yīng)力所激發(fā)的失效機(jī)理應(yīng)與實(shí)際使用狀態(tài)的失效機(jī)理相同。因?yàn)檫@些應(yīng)力比較充分地反映或者比較明顯地影響產(chǎn)品的可靠性和壽命。

    在不過多地增加檢查和測試工作量的情況下，應(yīng)盡可能比較清楚地丁解 產(chǎn)品的失效分布情況，不要使產(chǎn)品失效過于集中在一兩個(gè)測試周期內(nèi)，一般要求有五個(gè) 以上的測試點(diǎn)（指能測到失效產(chǎn)品的測試點(diǎn)），每個(gè)測試點(diǎn)上測到的失效數(shù)應(yīng)大致相同。 在確定具體產(chǎn)品的測試周期時(shí)，要對產(chǎn)品的失效情況或失效分布有所了解。這種了解可 以通過以往試驗(yàn)所積累的數(shù)據(jù)和資料來確定，也可以選取少量樣品做快速壽命試驗(yàn)來獲 得。對于試驗(yàn)應(yīng)力大，失效進(jìn)程快的產(chǎn)品，測試周期選短一些；對于試驗(yàn)應(yīng)力小，失效 進(jìn)程慢的產(chǎn)品，測試周期選長一些，可以在試驗(yàn)過程中逐步調(diào)整，如果希望在可靠性壽 命分布的坐標(biāo)軸上大致等距地選擇測試周期，這可F(t) 以借助坐標(biāo)紙或概率紙來加以確定。

   此外，這些應(yīng)力是容易控劁和測量的，否則，壽命試驗(yàn)難于按設(shè)計(jì)方案進(jìn)行。對于電子元器件與材料使用狀態(tài)所承受的和導(dǎo)致失效最主要的應(yīng)力是溫度應(yīng)力和電應(yīng)力，因此常選用這些應(yīng)力進(jìn)行壽命試驗(yàn)。它們可以是單一的應(yīng)力，也可以是同時(shí)作用的兩個(gè)或兩個(gè)以上應(yīng)力。

   為了能使最后的分析結(jié)果盡量精確，最好在整個(gè)壽命試驗(yàn)中，采用自動(dòng)監(jiān)測、連續(xù)測試的方法，以得到確切的失效時(shí)間。在沒有自動(dòng)記錄失效設(shè)備的場合下，只能采用間歇測試的辦法，即相隔一定的時(shí)間進(jìn)行一次測試。其測試周期的選擇將直接影響到品

可靠性指標(biāo)的估計(jì)精度。測試周期的長短與產(chǎn)品的壽命分布、施加應(yīng)力的大小有關(guān)。測試周期太短，會增加測試工作量；測試周期太長又會失掉一些有用的信息量。確定測試周期的原則是：

在試驗(yàn)過程中，要嚴(yán)格控制試驗(yàn)條件，保持試驗(yàn)條件的一致性，這是保證試驗(yàn)結(jié)果的 正確性所必需的。

  試驗(yàn)應(yīng)力的水平也應(yīng)視試驗(yàn)?zāi)康亩āＲ话銇碚f，試驗(yàn)應(yīng)力高，產(chǎn)品失效快，試驗(yàn) 時(shí)間短，但最高應(yīng)力受限于產(chǎn)品本身的使用極限，通常應(yīng)以不改變元器件在正常使用條 件下的失效機(jī)理為原則。如無特殊規(guī)定，試驗(yàn)應(yīng)力水平應(yīng)選擇產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的額 定值。

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   試驗(yàn)應(yīng)力類型的選擇視試驗(yàn)?zāi)康亩�。若要了解產(chǎn)品的儲存壽命或工作壽命就必須施加一定的環(huán)境應(yīng)力或電應(yīng)力。這是因?yàn)楫a(chǎn)品的失效是由失效機(jī)理決定的，同一件產(chǎn)品往往同時(shí)存在著不同的失效機(jī)理，而失效機(jī)理是否發(fā)展和發(fā)展速度快慢，與外加應(yīng)力有密切關(guān)系。對于壽命試驗(yàn)來說，受試產(chǎn)品的失效機(jī)理一定要與實(shí)際使用狀態(tài)的失效機(jī)理相一致；否則，壽命試驗(yàn)所得數(shù)據(jù)沒有實(shí)用價(jià)值。因此，要分析和研究在壽命試驗(yàn)中對失效機(jī)理的發(fā)展有促進(jìn)作用的應(yīng)力類型，也就是要選擇對產(chǎn)品失效影響最顯著或者最敏感的那些應(yīng)力，而且這些應(yīng)力所激發(fā)的失效機(jī)理應(yīng)與實(shí)際使用狀態(tài)的失效機(jī)理相同。因?yàn)檫@些應(yīng)力比較充分地反映或者比較明顯地影響產(chǎn)品的可靠性和壽命。

    在不過多地增加檢查和測試工作量的情況下，應(yīng)盡可能比較清楚地丁解 產(chǎn)品的失效分布情況，不要使產(chǎn)品失效過于集中在一兩個(gè)測試周期內(nèi)，一般要求有五個(gè) 以上的測試點(diǎn)（指能測到失效產(chǎn)品的測試點(diǎn)），每個(gè)測試點(diǎn)上測到的失效數(shù)應(yīng)大致相同。 在確定具體產(chǎn)品的測試周期時(shí)，要對產(chǎn)品的失效情況或失效分布有所了解。這種了解可 以通過以往試驗(yàn)所積累的數(shù)據(jù)和資料來確定，也可以選取少量樣品做快速壽命試驗(yàn)來獲 得。對于試驗(yàn)應(yīng)力大，失效進(jìn)程快的產(chǎn)品，測試周期選短一些；對于試驗(yàn)應(yīng)力小，失效 進(jìn)程慢的產(chǎn)品，測試周期選長一些，可以在試驗(yàn)過程中逐步調(diào)整，如果希望在可靠性壽 命分布的坐標(biāo)軸上大致等距地選擇測試周期，這可F(t) 以借助坐標(biāo)紙或概率紙來加以確定。

   此外，這些應(yīng)力是容易控劁和測量的，否則，壽命試驗(yàn)難于按設(shè)計(jì)方案進(jìn)行。對于電子元器件與材料使用狀態(tài)所承受的和導(dǎo)致失效最主要的應(yīng)力是溫度應(yīng)力和電應(yīng)力，因此常選用這些應(yīng)力進(jìn)行壽命試驗(yàn)。它們可以是單一的應(yīng)力，也可以是同時(shí)作用的兩個(gè)或兩個(gè)以上應(yīng)力。

   為了能使最后的分析結(jié)果盡量精確，最好在整個(gè)壽命試驗(yàn)中，采用自動(dòng)監(jiān)測、連續(xù)測試的方法，以得到確切的失效時(shí)間。在沒有自動(dòng)記錄失效設(shè)備的場合下，只能采用間歇測試的辦法，即相隔一定的時(shí)間進(jìn)行一次測試。其測試周期的選擇將直接影響到品

可靠性指標(biāo)的估計(jì)精度。測試周期的長短與產(chǎn)品的壽命分布、施加應(yīng)力的大小有關(guān)。測試周期太短，會增加測試工作量；測試周期太長又會失掉一些有用的信息量。確定測試周期的原則是：

在試驗(yàn)過程中，要嚴(yán)格控制試驗(yàn)條件，保持試驗(yàn)條件的一致性，這是保證試驗(yàn)結(jié)果的 正確性所必需的。

  試驗(yàn)應(yīng)力的水平也應(yīng)視試驗(yàn)?zāi)康亩�。一般來說，試驗(yàn)應(yīng)力高，產(chǎn)品失效快，試驗(yàn) 時(shí)間短，但最高應(yīng)力受限于產(chǎn)品本身的使用極限，通常應(yīng)以不改變元器件在正常使用條 件下的失效機(jī)理為原則。如無特殊規(guī)定，試驗(yàn)應(yīng)力水平應(yīng)選擇產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的額 定值。

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