通過壽命試驗可以評價產(chǎn)品的可靠性水平,了解產(chǎn)品失效分布規(guī)律和失效模式。通過對失效機(jī)理的分析,可以找出產(chǎn)品的失效原因,以便采取有效的改進(jìn)措施,提高產(chǎn)品的可靠性水平。不同的電子產(chǎn)品,其壽命分布規(guī)律是不同的,有些產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布,有些產(chǎn)品的壽命分布服從威布爾分布,有些產(chǎn)品的壽命分布服從對數(shù)正態(tài)分布。為了方便起見,往往假定產(chǎn)品服從指數(shù)分布,據(jù)此進(jìn)行試驗設(shè)計并開展壽命試驗。

OPA2354AIDGKR

    任何設(shè)計合理、工藝成熟、質(zhì)量控制嚴(yán)格的生產(chǎn)線上生產(chǎn)出來的產(chǎn)品都具有一定的可靠性,這類產(chǎn)品通過嚴(yán)格的工藝篩選剔除掉早期失效產(chǎn)品后,便進(jìn)入偶爾失效期。在這段時期內(nèi),產(chǎn)品的壽命分布接近指數(shù)分布,即失效率雙莎)接近于常數(shù)。這是產(chǎn)品在實際使中較長的一段時期。指數(shù)分布的假設(shè)與某些元件的使用壽命和試驗結(jié)果比較接近。實踐也表明,即使不少元件的壽命是服從威布爾分布的,但當(dāng)形狀參數(shù)為1時,威布爾分布就變成指數(shù)分布了。在指數(shù)分布的情形下,產(chǎn)品可靠性特征量表達(dá)簡單,只要掌握了產(chǎn)品的失效率就可以知道產(chǎn)品的全部分布特性,因此,可以利用它作為產(chǎn)品實際分布的一種近似。