加速壽命試驗是指采用加大應力的方法促使樣品在短期內(nèi)失效,以預測在正常工作條或儲存條件下的可靠性,但不改變受試樣品的失效機理。OPA2354AIDDAR按照試驗時施加應力的方式,加速壽命試驗可分為恒定應力加速壽命試驗、步進應力加速壽命試驗和序進應力加速壽命試驗。恒定應力加速壽命試驗是指樣品在試驗期間所承受的應力保持不變;步進應力加速壽命試驗是指樣品在試驗期間所承受應力按一定時間間隔階梯式地增加,直至樣品產(chǎn)生足夠的退化為止;序進應力加速壽命試驗是指樣品在試驗期間所受應力按時間等速增加,直至樣品產(chǎn)生足夠的退化為止。

    產(chǎn)品出現(xiàn)故障是一種隨機事件,產(chǎn)品的壽命是一個隨機變量,因而產(chǎn)品的故障和壽命都可以用失效分布或壽命分布函數(shù)的形式來描述其規(guī)律。常用的分布有指數(shù)分布、正態(tài)分布及威布爾分布等。

    當元器件足夠多、時間足夠長時,失效率便趨近于一穩(wěn)定值,其值大小只與工作條件和外部環(huán)境有關,而與產(chǎn)品的工作時間無關,產(chǎn)品的這種壽命分布規(guī)律稱為指數(shù)分布。壽命分布服從指數(shù)分布規(guī)律的產(chǎn)品,當其失效率不同時,其可靠度也不同。不同失效率的可靠度與時間的關系如圖1-1所示。