正弦振動(dòng)試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)

   GB/T2423.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》的第2部分試驗(yàn)方法中試驗(yàn)F和導(dǎo)則、振動(dòng)(正弦);標(biāo)準(zhǔn)GJB360。13和GJB360.15《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》的低頻振動(dòng)試驗(yàn)和高頻振動(dòng)試驗(yàn);GJB548《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》中方法2005的振動(dòng)疲勞、方法⒛06的振動(dòng)噪聲以及方法20O7的變頻振動(dòng)等,都是正弦振動(dòng)試驗(yàn)方法的標(biāo)準(zhǔn),在結(jié)構(gòu)和內(nèi)容上大同小異。這里僅將這些標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容進(jìn)行概略介紹。

IDT74FCT244TQ

   標(biāo)準(zhǔn)GB/Tz⒛,10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》第2部分的試驗(yàn)方法中試驗(yàn)F和導(dǎo)則、振動(dòng)(正弦)的內(nèi)容主要由目的、一般說明、定義、試驗(yàn)設(shè)備、嚴(yán)酷等級(jí)、試驗(yàn)程序、條件試驗(yàn)、有關(guān)規(guī)范應(yīng)做的規(guī)定以及對(duì)特殊問題做出的一些說明等部分組成。其中試驗(yàn)設(shè)備、條件試驗(yàn)及在試驗(yàn)過程中應(yīng)注意的問題等內(nèi)容可參閱后面的有關(guān)章節(jié)。標(biāo)準(zhǔn)GJB360.15和GJB bˉd8的內(nèi)容主要由引言、試驗(yàn)條件、對(duì)試驗(yàn)設(shè)備的要求、試驗(yàn)程序、失效判據(jù)及采用本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)應(yīng)規(guī)定的細(xì)則等部分組成。和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試

驗(yàn)相比,盡管其試驗(yàn)對(duì)象的用途不同,但在正弦振動(dòng)試驗(yàn)的方法和原理上是基本相同的,除試驗(yàn)?zāi)康�、試�?yàn)條件外,其他內(nèi)容也將在有關(guān)振動(dòng)試驗(yàn)技術(shù)的章節(jié)中做詳細(xì)說明。