正弦振動試驗方法標準

   GB/T2423.10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程》的第2部分試驗方法中試驗F和導則、振動(正弦);標準GJB360。13和GJB360.15《電子及電氣元件試驗方法》的低頻振動試驗和高頻振動試驗;GJB548《微電子器件試驗方法和程序》中方法2005的振動疲勞、方法⒛06的振動噪聲以及方法20O7的變頻振動等,都是正弦振動試驗方法的標準,在結構和內(nèi)容上大同小異。這里僅將這些標準的內(nèi)容進行概略介紹。

IDT74FCT244TQ

   標準GB/Tz⒛,10《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗規(guī)程》第2部分的試驗方法中試驗F和導則、振動(正弦)的內(nèi)容主要由目的、一般說明、定義、試驗設備、嚴酷等級、試驗程序、條件試驗、有關規(guī)范應做的規(guī)定以及對特殊問題做出的一些說明等部分組成。其中試驗設備、條件試驗及在試驗過程中應注意的問題等內(nèi)容可參閱后面的有關章節(jié)。標準GJB360.15和GJB bˉd8的內(nèi)容主要由引言、試驗條件、對試驗設備的要求、試驗程序、失效判據(jù)及采用本標準時應規(guī)定的細則等部分組成。和國家標準的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試

驗相比,盡管其試驗對象的用途不同,但在正弦振動試驗的方法和原理上是基本相同的,除試驗目的、試驗條件外,其他內(nèi)容也將在有關振動試驗技術的章節(jié)中做詳細說明。