粗檢漏(氟碳化合物粗檢漏試驗(yàn)法)

   氟碳化合物粗檢漏試驗(yàn)是采用高沸點(diǎn)的F⒍40或F-43全氟三丁胺作為加熱液體和低沸點(diǎn)的FC-72或F△13三氯三氟乙烷作為顯示液體的一種加壓檢漏。 H5TQ2G83BFR-PBC它是使低沸點(diǎn)的氟碳化合物通過漏孔壓入試驗(yàn)樣品內(nèi)部,當(dāng)去掉外部壓力后,在高沸點(diǎn)的氟碳合物液體中置熱膨脹逸出而產(chǎn)生氣泡,從而找出試驗(yàn)樣品的漏孔所在,以達(dá)到檢漏的目的。它和氦質(zhì)譜細(xì)檢漏己成為目前比較完整配套的密封性檢驗(yàn)手段。如果不采用氟碳化合物而利用其他氣體,則在受熱后氣體膨脹由封裝漏孔處所泄漏出的氣泡很不明顯,且時(shí)間較短不易分辨。

   l)試驗(yàn)設(shè)各

   氟碳化合物粗檢漏試驗(yàn)法所需試驗(yàn)設(shè)備如下:

   (1)真空/壓力室:用于抽真空及隨后加壓,能使試驗(yàn)樣品受到ω0kPa的壓力作用。

   (2)能保持指示液體在溫度125℃時(shí)適合于觀察的容器,以及能夠把尺寸大于1um的雜質(zhì)從液體中除去的過濾系統(tǒng)。

   (3)l,5~30倍的放大鏡:當(dāng)把試驗(yàn)樣品浸入指示液體中時(shí),能有效地觀察到封裝泄漏處所冒出的氣泡。

   (4)適用的高沸點(diǎn)氟碳化合物加熱液體和低沸點(diǎn)氟碳化合物顯示液體,且不應(yīng)含有氯或氫等物質(zhì),其物理性能要求如表⒋5所示。

   表⒋5 高、低沸點(diǎn)氟碳化合物的物理性能

   (5)光源:它在空氣中具有足夠的亮度,以便能夠清楚地觀察到封裝泄漏處所冒出的氣泡。

   (6)指示試驗(yàn)溫度、壓力和時(shí)間是否符合規(guī)定的己校準(zhǔn)的合適儀器。

   (7)使試驗(yàn)樣品浸入指示液體中的合適工具。

   加壓條件和測(cè)試溫度

   以C・JB5緦B―⒛OS中方法1014試驗(yàn)條件C1為例,其加壓條件和測(cè)試溫度如表⒋6所示。表⒋6 氟碳化合物粗檢漏加壓條件和測(cè)試溫度