雖然光學(xué)檢漏技術(shù)逐漸成熟,也在國(guó)內(nèi)有了一定的應(yīng)用市場(chǎng),但受檢測(cè)成本高、 H9DP32A4JJACGR檢測(cè)試驗(yàn)的范圍小等因素的影響,發(fā)展還是比較緩慢的。受小試樣內(nèi)腔氣體檢測(cè)精度不高和某些特殊領(lǐng)域需要更高的檢測(cè)精度的要求,研發(fā)新型檢漏儀是必需的。目前,國(guó)外研制的采用四級(jí)質(zhì)譜法的檢漏儀已經(jīng)在使用,該設(shè)備的檢漏精度達(dá)1×10ˉ℃a・cm3/s。

   密封檢測(cè)技術(shù)中的粗檢漏方法主要還是采用氟碳化合物等表面張力大的指示液作為試驗(yàn)介質(zhì),該方法比增重粗檢漏法、染料浸透粗檢漏法效率高、操作簡(jiǎn)便、安全易會(huì)、漏孔判斷位置準(zhǔn)確,國(guó)內(nèi)普遍采用此方法進(jìn)行粗檢漏試驗(yàn)。

    對(duì)于電連接器密封檢測(cè),差壓檢漏法是一個(gè)發(fā)展趨勢(shì)。該方法(見圖4-13)是同時(shí)向兩個(gè)相同的容器內(nèi)充入一定壓力的氣體,兩個(gè)容器中一個(gè)為標(biāo)準(zhǔn)件即無泄漏件,當(dāng)被測(cè)件有泄漏時(shí),通過容器間的差壓傳感器測(cè)出泄漏被測(cè)件與標(biāo)準(zhǔn)件之間的壓力差,從而計(jì)算出泄漏量。在差壓測(cè)試法中,由于被測(cè)件和標(biāo)準(zhǔn)件的結(jié)構(gòu)完全相同,在測(cè)試過程中的各種誤差因素,如絕熱因素影響,溫度及汽化、蒸發(fā)的影響等都可以不予考慮,而且差壓傳感器的精度又比較高,因此,可以精確地檢測(cè)出微小的泄漏。

   根據(jù)前面的檢測(cè)過程的分析,得出電磁閥的控制時(shí)序如圖4-14所示,rl為充氣時(shí)間,劫為第一平衡時(shí)問,毛為第二平衡時(shí)間,勤為測(cè)試時(shí)間,玷為排氣時(shí)間。