塑封器件假冒翻新鑒別的無(wú)損分析程序

   目前,假冒翻新的手段層出不窮,然而尚未有塑封器件假冒翻新鑒別檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)范,也沒(méi)有形成有效的流程化鑒別模式,造成鑒別難度較大。H27U1G8F2BTR-BI對(duì)于翻新塑封器件,可以借鑒DPA(破壞性物理分析),建立假冒翻新從無(wú)損到有損的分析程序進(jìn)行判定:首先進(jìn)行無(wú)損性的外觀分析,在發(fā)現(xiàn)疑似的假冒翻新器件后,進(jìn)行X射線檢查分析、C-sAM聲學(xué)掃描顯微鏡檢查,最后在基本確定為疑似翻新器件后進(jìn)行破壞性的化學(xué)開(kāi)封及內(nèi)部觀察分析,而假冒塑封器件還要另外進(jìn)行電性能比對(duì)測(cè)試,具體無(wú)損鑒別分析程序如下:

   1)外觀初步分析

   采用立體顯微鏡、精密影像測(cè)量?jī)x及分析天平對(duì)塑封器件外觀進(jìn)行分析。

   2)塑封器件標(biāo)志

   塑封器件標(biāo)志一般采用激光打標(biāo)或絲印打標(biāo),器件型號(hào)廠家等標(biāo)識(shí)字跡清晰完整。絲印打標(biāo)工藝早已被大部分元器件生產(chǎn)廠家淘汰,因此采用絲印打標(biāo)出現(xiàn)假冒翻新的幾率更大,如圖5-9所示生產(chǎn)廠家在相同型號(hào)器件卻采用不同的打標(biāo)工藝。

   至于激光打標(biāo)器件,由于檢測(cè)過(guò)程中往往沒(méi)有原廠正品作為參照物進(jìn)行比對(duì)觀察,區(qū)分真?zhèn)伪容^困難ˉ只能從塑封器件的標(biāo)識(shí)字跡是否清晰、打標(biāo)是否平滑以及表面熔融痕跡的深淺等特征進(jìn)行判定。