芯片測(cè)試系統(tǒng)規(guī)格
發(fā)布時(shí)間:2008/6/5 0:00:00 訪問(wèn)次數(shù):365
1. 200 mhz clock 測(cè)試能力
2. 1.5 ns rise/fall time 5v swing
3. per-pin 程式化 , 50 歐姆特性阻抗
4. pin count 224 i/o 可擴(kuò)充至 448 i/o
5.
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4. pin count 224 i/o 可擴(kuò)充至 448 i/o
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