封裝外殼失效
發(fā)布時(shí)間:2012/4/25 19:29:31 訪問次數(shù):640
封裝外殼的氣密性是保證CY7C60445-32LQXC電路高可靠性的重要環(huán)節(jié)之一�；旌霞呻娐分饕捎媒饘僖徊Ａ鈿�、金屬一陶瓷外殼和陶瓷外殼等高氣密性外殼封裝。封裝外殼失效的主要模式有：密封性能失效、鍍層銹蝕、外引線銹蝕或斷裂、絕緣子裂紋等�？蓮囊韵聨追矫孢M(jìn)行控制：
④選用穩(wěn)定可靠的外殼供方。
②進(jìn)行嚴(yán)格的外殼評(píng)價(jià)試驗(yàn)，對(duì)表面質(zhì)量、鍍層厚度、結(jié)構(gòu)、尺寸、鍵合面等嚴(yán)格檢驗(yàn)或評(píng)價(jià)。
③采用可靠的密封方式，如平行縫焊封口等。
④注意對(duì)外引線的防護(hù)，通常外引線只提供電氣連接作用，不能作為機(jī)械支撐用。特別注意測(cè)試夾具、試驗(yàn)夾具等對(duì)外引線的損傷。
④選用穩(wěn)定可靠的外殼供方。
②進(jìn)行嚴(yán)格的外殼評(píng)價(jià)試驗(yàn)，對(duì)表面質(zhì)量、鍍層厚度、結(jié)構(gòu)、尺寸、鍵合面等嚴(yán)格檢驗(yàn)或評(píng)價(jià)。
③采用可靠的密封方式，如平行縫焊封口等。
④注意對(duì)外引線的防護(hù)，通常外引線只提供電氣連接作用，不能作為機(jī)械支撐用。特別注意測(cè)試夾具、試驗(yàn)夾具等對(duì)外引線的損傷。
封裝外殼的氣密性是保證CY7C60445-32LQXC電路高可靠性的重要環(huán)節(jié)之一�；旌霞呻娐分饕捎媒饘僖徊Ａ鈿�、金屬一陶瓷外殼和陶瓷外殼等高氣密性外殼封裝。封裝外殼失效的主要模式有：密封性能失效、鍍層銹蝕、外引線銹蝕或斷裂、絕緣子裂紋等。可從以下幾方面進(jìn)行控制：
④選用穩(wěn)定可靠的外殼供方。
②進(jìn)行嚴(yán)格的外殼評(píng)價(jià)試驗(yàn)，對(duì)表面質(zhì)量、鍍層厚度、結(jié)構(gòu)、尺寸、鍵合面等嚴(yán)格檢驗(yàn)或評(píng)價(jià)。
③采用可靠的密封方式，如平行縫焊封口等。
④注意對(duì)外引線的防護(hù)，通常外引線只提供電氣連接作用，不能作為機(jī)械支撐用。特別注意測(cè)試夾具、試驗(yàn)夾具等對(duì)外引線的損傷。
④選用穩(wěn)定可靠的外殼供方。
②進(jìn)行嚴(yán)格的外殼評(píng)價(jià)試驗(yàn)，對(duì)表面質(zhì)量、鍍層厚度、結(jié)構(gòu)、尺寸、鍵合面等嚴(yán)格檢驗(yàn)或評(píng)價(jià)。
③采用可靠的密封方式，如平行縫焊封口等。
④注意對(duì)外引線的防護(hù)，通常外引線只提供電氣連接作用，不能作為機(jī)械支撐用。特別注意測(cè)試夾具、試驗(yàn)夾具等對(duì)外引線的損傷。
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