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熱應(yīng)力對電子組裝件的影響

發(fā)布時間:2012/10/23 19:37:20 訪問次數(shù):792

    不同材質(zhì)結(jié)合面的熱S29AL004D70TFI020應(yīng)力對電子組裝件的可靠性影響,主要表現(xiàn)在如下幾個方面。
    一是熱應(yīng)力的變化比較緩慢,故在應(yīng)力分析時?梢暈殪o應(yīng)力(平均應(yīng)力),平均應(yīng)力大,使等效交變應(yīng)力增大,從而降低了結(jié)構(gòu)的疲勞壽命。當(dāng)實(shí)際應(yīng)力超過許用應(yīng)力時,會造成結(jié)構(gòu)斷裂,發(fā)生永久變形等損壞。這類故障在結(jié)構(gòu)剛性較差的印制板中尤為突出。在某艦船電子設(shè)備中,因印制板上銅箔導(dǎo)線斷裂而出現(xiàn)的故障,就占總故障數(shù)的30%以上。
    二是溫度的變化范圍較大時(如電子組裝件正常工作范圍為-55~+125℃)常會引起材料自身物理(化學(xué))特性的突變,這不僅給熱應(yīng)力的分析帶來極大困難,而且也嚴(yán)重地影響了結(jié)合面的可靠性。例如,高分子材料在-55~+300℃溫度范圍內(nèi)將呈現(xiàn)玻璃態(tài)(脆性材質(zhì))、高彈態(tài)(彈性材質(zhì))和黏流態(tài)(黏性材質(zhì))三種性狀,且各態(tài)的楊氏模量E、G差別很大,要對它們進(jìn)行精確的應(yīng)力分析甚至是不可能的。鑒于以上情況,在選擇粘接層材料時應(yīng)考慮其在工作溫度范圍內(nèi)的物理、化學(xué)性能的穩(wěn)定性,并且還應(yīng)通過試驗(yàn)加以驗(yàn)證。
    三是由于熱應(yīng)力引起的彎曲變形,使發(fā)熱元器件與散熱器之間的有效接觸面積減小,熱阻增大,造成發(fā)熱元器件的熱量不易傳導(dǎo)出去。熱量積聚,溫度升高不僅造成元器件的電參數(shù)(內(nèi)電阻、內(nèi)電容、內(nèi)電感)變化,電性能(發(fā)射功率、頻率穩(wěn)定性等)降低,還會引起損壞(晶體管擊穿等)。這種有害影響對于組裝密度較高,且主要以熱傳導(dǎo)方式將熱量散至殼外(箱外)的電子組裝件尤其突出。
    高溫、低溫、溫度沖擊等環(huán)境試驗(yàn)就是考驗(yàn)電子組裝件對熱環(huán)境的適應(yīng)性。
    不同材質(zhì)結(jié)合面的熱S29AL004D70TFI020應(yīng)力對電子組裝件的可靠性影響,主要表現(xiàn)在如下幾個方面。
    一是熱應(yīng)力的變化比較緩慢,故在應(yīng)力分析時常可視為靜應(yīng)力(平均應(yīng)力),平均應(yīng)力大,使等效交變應(yīng)力增大,從而降低了結(jié)構(gòu)的疲勞壽命。當(dāng)實(shí)際應(yīng)力超過許用應(yīng)力時,會造成結(jié)構(gòu)斷裂,發(fā)生永久變形等損壞。這類故障在結(jié)構(gòu)剛性較差的印制板中尤為突出。在某艦船電子設(shè)備中,因印制板上銅箔導(dǎo)線斷裂而出現(xiàn)的故障,就占總故障數(shù)的30%以上。
    二是溫度的變化范圍較大時(如電子組裝件正常工作范圍為-55~+125℃)常會引起材料自身物理(化學(xué))特性的突變,這不僅給熱應(yīng)力的分析帶來極大困難,而且也嚴(yán)重地影響了結(jié)合面的可靠性。例如,高分子材料在-55~+300℃溫度范圍內(nèi)將呈現(xiàn)玻璃態(tài)(脆性材質(zhì))、高彈態(tài)(彈性材質(zhì))和黏流態(tài)(黏性材質(zhì))三種性狀,且各態(tài)的楊氏模量E、G差別很大,要對它們進(jìn)行精確的應(yīng)力分析甚至是不可能的。鑒于以上情況,在選擇粘接層材料時應(yīng)考慮其在工作溫度范圍內(nèi)的物理、化學(xué)性能的穩(wěn)定性,并且還應(yīng)通過試驗(yàn)加以驗(yàn)證。
    三是由于熱應(yīng)力引起的彎曲變形,使發(fā)熱元器件與散熱器之間的有效接觸面積減小,熱阻增大,造成發(fā)熱元器件的熱量不易傳導(dǎo)出去。熱量積聚,溫度升高不僅造成元器件的電參數(shù)(內(nèi)電阻、內(nèi)電容、內(nèi)電感)變化,電性能(發(fā)射功率、頻率穩(wěn)定性等)降低,還會引起損壞(晶體管擊穿等)。這種有害影響對于組裝密度較高,且主要以熱傳導(dǎo)方式將熱量散至殼外(箱外)的電子組裝件尤其突出。
    高溫、低溫、溫度沖擊等環(huán)境試驗(yàn)就是考驗(yàn)電子組裝件對熱環(huán)境的適應(yīng)性。
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