可靠性篩選是提高產(chǎn)品可靠性的一項有效措施，所謂可靠性篩選試驗( ReliabilityS。，eening T。。t)是指為選擇具有一定特性的產(chǎn)品或剔除早期失效產(chǎn)品而進行的試驗，DL-7147-201B其目的顯然有兩個方面：其一，從批產(chǎn)品中挑選出高可靠性的產(chǎn)品，淘汰掉那些低劣的產(chǎn)品，將批產(chǎn)品按可靠性大小分類；其二，剔除那些具有潛在缺陷的早期失效產(chǎn)品，因此，篩選可分兩大類：普通篩選——主要剔除早期失效的產(chǎn)品；精密篩選——在普通篩選的基礎(chǔ)上進行的二次篩選，剔除參數(shù)漂移大的產(chǎn)品，以便得到高庋可靠的產(chǎn)品�？煽啃院Y選所剔除的具有潛在缺陷的早期失效產(chǎn)品一般都是工藝缺陷和工藝過程中的差錯造成的，所以可靠性篩選有時也叫工藝篩選(Processing Technology Screening)。但是，必須特別指出，在生產(chǎn)過程中一般電子元器件的特性值分布在一定范圍內(nèi)，失效機理是確定的，因而可靠性篩選不能改變其失效機理。因此，可靠性篩選不能提高單個元件的可靠性（固有可靠性），只能將早期失效產(chǎn)品剔除或?qū)a(chǎn)品可靠性分成不同水平等級，從而提高批產(chǎn)品總的可靠性水平。所以高可靠性電子元器件產(chǎn)品的獲得主要依靠對電子元器件的可靠性設(shè)計和嚴(yán)格的工藝控制，而不依靠可靠性篩選。其實，在產(chǎn)品制造過程中，各個工藝質(zhì)量的檢驗、成品和半成品的電參數(shù)測試等也可看做篩選的過程。

   可靠性篩選的方法很多，可以通過簡單觀測（例如，顯微鏡觀察、電參數(shù)測量）來檢查潛在的缺陷；也可以通過施加單個和多個環(huán)境壓力，使缺陷加以暴露，或通過施加其他應(yīng)力來觀測或發(fā)現(xiàn)缺陷，或通過早期壽命試驗對參數(shù)的特征值測量來決定良品和不良品。有的方法通過對樣品施加應(yīng)力，觀測元器件參數(shù)的變化來判斷缺陷（通常通過觀測對缺陷敏感的參數(shù)來判別），或間接地觀察元器件的應(yīng)為集中情況，如機械變形、電應(yīng)力和熱應(yīng)力的集中等進行判斷，應(yīng)力集中者多數(shù)為缺陷所在處，是不可靠或早期失效產(chǎn)品。