由于失效模式與失效機(jī)理不是一一對(duì)應(yīng)，因此， HM62832HJP-45單靠所獲得的失效信息及失效模式還很難對(duì)其失效機(jī)理進(jìn)行推斷，必須利用解剖分析來(lái)對(duì)上述各種信息綜合分析，推斷出失效機(jī)理。例如，密封電磁繼電器接觸不良，可以是接點(diǎn)污染、接觸簧片應(yīng)力松弛、電腐蝕及磁隙增大等失效機(jī)理造成的。X射線檢查可排除磁隙增大這種失效機(jī)理；接點(diǎn)電腐蝕可以憑經(jīng)驗(yàn)及分析加以排除；接點(diǎn)簧片應(yīng)力松弛需打開外罩后測(cè)量接觸壓力才能確定；接點(diǎn)污染除打開外罩分析接點(diǎn)表面外，開罩前對(duì)其檢漏，并分析密封腔內(nèi)的氣體成分也是十分重要的。若失效機(jī)理是接點(diǎn)污染，則其污染源可以來(lái)自繼電器本身（如裝調(diào)、清洗等過(guò)程帶入的污染，或者由于有機(jī)絕緣材料溢出的有機(jī)氣體等），也可以來(lái)自外界

（如有害氣體的侵入，或水蒸氣的侵入等）。來(lái)自外界的污染源可用氦質(zhì)譜檢漏儀檢查何處存在微漏孔，如不存在則必然來(lái)自內(nèi)部。若污染源來(lái)自內(nèi)部，可進(jìn)行試樣腔內(nèi)的氣體成分及含量分析；或者直接分析繼電器的有機(jī)材料的性能及其排氣工藝；或者改變工藝條件的對(duì)比試驗(yàn)等來(lái)加以判斷。這樣一步一步地深入，以便推斷出比較符合實(shí)際的失效機(jī)理。