失效分析程序
發(fā)布時(shí)間:2015/7/1 19:08:00 訪問(wèn)次數(shù):369
為了正確地推斷出失效機(jī)理．HM62832HLJP-25除了得到必要的失效現(xiàn)象和各種信息外，還必須正確選擇和使用分析手段，才能達(dá)到預(yù)期的目的。表5.9列出了密封電磁繼電器的一般分析程序及檢查分析的內(nèi)容，具體分析時(shí)可根據(jù)實(shí)際情況加以調(diào)整和補(bǔ)充。
表5 9密封電磁繼電器分析程序及檢查分析的內(nèi)容
為了正確地推斷出失效機(jī)理．HM62832HLJP-25除了得到必要的失效現(xiàn)象和各種信息外，還必須正確選擇和使用分析手段，才能達(dá)到預(yù)期的目的。表5.9列出了密封電磁繼電器的一般分析程序及檢查分析的內(nèi)容，具體分析時(shí)可根據(jù)實(shí)際情況加以調(diào)整和補(bǔ)充。
表5 9密封電磁繼電器分析程序及檢查分析的內(nèi)容
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相關(guān)技術(shù)資料- 8-2在無(wú)線傳感器網(wǎng)絡(luò)中完成節(jié)點(diǎn)間的時(shí)間同步面臨著如下挑戰(zhàn)
- 7-1失效分析程序
熱門點(diǎn)擊
- 組合棱鏡
- 經(jīng)緯儀的測(cè)角原理和基本結(jié)構(gòu)
- 熱敏電阻器的典型應(yīng)用電路
- 輻照效應(yīng)
- 瞬變電壓抑制二極管
- 耗損失效期
- 三次擬合曲線較二次擬合曲線陡峭
- 尺寸小的CCD攝像器件產(chǎn)生的視場(chǎng)角要小
- 環(huán)境應(yīng)力與失效
- 紅外吸收層處于中央的懸浮薄膜處
推薦技術(shù)資料
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開(kāi)
- URF1DxxM-60WR3系
- 1-6W URA24xxN-x
- 閉環(huán)磁通門信號(hào)調(diào)節(jié)芯片NSDRV401
- SK-RiSC-SOM-H27X-V1.1應(yīng)
- RISC技術(shù)8位微控制器參數(shù)設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究
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