鍵合引線的作用是在芯片與金屬引線框架之間建立電連接。鍵合引線的失效會使相應的引腳失去功能,Q2006DH4從而使器件失效,是超大規(guī)模集成電路常見的失效形式。

   1)失效機理

   由于化學腐蝕、機械應力損傷及鍵合工藝不當,使鍵合引線沒有起到應有的電連接的作用。

   2)失效模式

   鍵合引線的失效模式有鍵合金絲彎曲、金絲鍵合焊盤凹陷、鍵合線損傷、鍵合線斷裂和脫落、鍵合引線和焊盤腐蝕、引線框架腐蝕、引線框架的低粘附性及脫層、包封料破裂、包封材料疲勞裂縫、焊接點疲勞。

   3)預防措施

   彎引線時,為防止將過大應力加在管座和引線之間,應將彎曲點和管座間的引線用工具加以固定,彎曲時應防止工具碰到管座,更不能用手拿著管座來彎折引線。如果引線成形采用夾具進行大批生產(chǎn)時,必須使用專門的固定引線的夾具,而且要防止固定引線的夾具將應力加到器件上。

   不要對引線進行反復彎折,應避免對扁平形狀的引線進行橫向彎折,沿引線“軸向”施加過大應力(拉力)時,會導致器件密封性遭到損壞。因此,應避免在這種情況下施加超過規(guī)定的應力,應避免彎折夾具損傷引線鍍層。