自對(duì)硅硅化物
發(fā)布時(shí)間:2017/10/22 11:33:23 訪問(wèn)次數(shù):546
圖6,6是標(biāo)準(zhǔn)的Endura物理氣相沉積(PVD)鎳鉑合金薄膜的機(jī)臺(tái)結(jié)構(gòu),主要包括工部分:預(yù)清潔處理腔(prcdean)、鎳鉑(N←Pt)合金薄膜沉積腔和蓋帽層(cap larr)TiN沉積腔。其中根據(jù)具體工藝需要,每種腔室可以有一個(gè)或多個(gè),TC74HC4075AP以達(dá)到最佳的工藝速度。這些I藝腔室被集成在兩個(gè)較大的公用腔室上,所有的腔室都是高真空的,要達(dá)到106托以下,并采用逐級(jí)真空,其中,反應(yīng)腔的真空度最高。工藝過(guò)程中,硅片(wafer)先進(jìn)人預(yù)清潔處理腔,以去除硅片表面的自然氧化物(native oxide),然后進(jìn)人鎳钅自合金薄膜沉積腔沉積一層鎳-鉑合金薄膜,最后進(jìn)人TiN沉積腔生成蓋帽層。下面對(duì)這二種工藝腔進(jìn)行詳細(xì)描述。
圖6,6是標(biāo)準(zhǔn)的Endura物理氣相沉積(PVD)鎳鉑合金薄膜的機(jī)臺(tái)結(jié)構(gòu),主要包括工部分:預(yù)清潔處理腔(prcdean)、鎳鉑(N←Pt)合金薄膜沉積腔和蓋帽層(cap larr)TiN沉積腔。其中根據(jù)具體工藝需要,每種腔室可以有一個(gè)或多個(gè),TC74HC4075AP以達(dá)到最佳的工藝速度。這些I藝腔室被集成在兩個(gè)較大的公用腔室上,所有的腔室都是高真空的,要達(dá)到106托以下,并采用逐級(jí)真空,其中,反應(yīng)腔的真空度最高。工藝過(guò)程中,硅片(wafer)先進(jìn)人預(yù)清潔處理腔,以去除硅片表面的自然氧化物(native oxide),然后進(jìn)人鎳钅自合金薄膜沉積腔沉積一層鎳-鉑合金薄膜,最后進(jìn)人TiN沉積腔生成蓋帽層。下面對(duì)這二種工藝腔進(jìn)行詳細(xì)描述。
熱門點(diǎn)擊
- 曝光能量寬裕度,歸一化圖像對(duì)數(shù)斜率(NILs
- CVD是用來(lái)制備二氧化硅介質(zhì)薄膜的主要工藝方
- 退火過(guò)程中晶粒的變化
- 電子產(chǎn)品裝配過(guò)程中常用的圖紙有哪些?
- 載流子遷移率提高技術(shù)
- 光刻技術(shù)發(fā)展歷史
- 薄層金屬沉積需要良好的臺(tái)階覆蓋性
- W plugR制程
- 顯影后烘焙,堅(jiān)膜烘焙
- 天線距離地平面的高度應(yīng)在規(guī)定的范圍內(nèi)變化
推薦技術(shù)資料
- 業(yè)余條件下PCM2702
- PGM2702采用SSOP28封裝,引腳小而密,EP3... [詳細(xì)]
- CV/CC InnoSwitch3-AQ 開(kāi)
- URF1DxxM-60WR3系
- 1-6W URA24xxN-x
- 閉環(huán)磁通門信號(hào)調(diào)節(jié)芯片NSDRV401
- SK-RiSC-SOM-H27X-V1.1應(yīng)
- RISC技術(shù)8位微控制器參數(shù)設(shè)
- 多媒體協(xié)處理器SM501在嵌入式系統(tǒng)中的應(yīng)用
- 基于IEEE802.11b的EPA溫度變送器
- QUICCEngine新引擎推動(dòng)IP網(wǎng)絡(luò)革新
- SoC面世八年后的產(chǎn)業(yè)機(jī)遇
- MPC8xx系列處理器的嵌入式系統(tǒng)電源設(shè)計(jì)
- dsPIC及其在交流變頻調(diào)速中的應(yīng)用研究